판매용 중고 TERADYNE iFlex #9222680
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ID: 9222680
빈티지: 2007
Tester
Configurations:
Slot 1: BBAC / DIB2
Slot 2: HSD / DIB7
Slot 3: HSD / DIB9
Slot 4: DC30 / DIB10
Slot 5: HSD / DIB11
Slot 6: HSD / DIB13
Slot 7: Support board (DSPx2)
Slot 8: HSD / DIB15
Slot 9: DC75 / DIB16
Slot 10: HSD / DIB17
Slot 11: HSD / DIB19
Slot 12: VHFAC / DIB22
Slot 16: HSD / DIB44
Slot 17: HSD / DIB42
Slot 19: HSD / DIB40
Slot 20: Support board (DSPx2)
Slot 21: HSD / DIB38
Slot 22: HSD / DIB36
Slot 23: DC75 / BIN35
Slot 24: HSD / DIB34
Slot 25: HSD / DIB32
2007 vintage.
TERADYNE iFlex는 대용량 애플리케이션을 위해 설계된 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 첨단 통합 플랫폼 (platform) 을 제공하여 다양한 제품에 대한 출시 시간을 단축합니다. 이 장치는 고밀도 패키지에서 병렬, 혼합 신호 테스트가 필요한 테스트 응용 프로그램에 적합합니다. TERADYNE I-FLEX는 상세한 제품 지식을 활용하여 운영 테스트 시스템을 원활하게 제어합니다. 고도로 통합된 플랫폼을 사용하면 여러 제품과 구성 요소를 관리할 수 있는 단일 테스트 (single test) 프로그램을 개발할 수 있습니다. 따라서 테스트 시간을 최적화하면서 제품 테스트가 향상됩니다. 이 시스템은 3 가지 핵심 구성 요소를 사용하여 안정적인 성능을 보장합니다. 첫 번째는 테스트 환경을 쉽게 사용자 정의할 수 있는 유연한 공구 (flexible tool) 컴포넌트입니다. 둘째, 다양한 뷰 옵션을 통해 효율적인 프로그램 개발을 통해 신속한 문제 해결을 보장하는 통합 사용자 인터페이스 (Unified User Interface) 입니다. 마지막으로, 자산 분석 엔진은 유연한 보고서를 생성하여 테스트 결과를 신속하게 검토합니다. IFlex 의 고밀도 병렬 테스터 (parallel tester) 는 시장에서 가장 높은 병렬 처리 수를 제공하는 멀티 사이트 테스트를 제공합니다. 이 모델은 최대 5 개의 사이트를 최대 속도로 수용 할 수 있으며 Power Core 및 Digital Resistor 기술도 갖추고 있습니다. 이를 통해 엔지니어는 최소 테스트 시간으로 병렬 혼합 신호 테스트를 수행 할 수 있습니다. 장비는 여러 가지 프로그래밍 옵션을 제공합니다. 여기에는 여러 가지 테스트 구성을 동시에 실행할 수 있는 기능, 제품 유형 간에 신속하게 전환할 수 있는 기능 등이 포함됩니다 (영문). 이 시스템은 C, Python 및 VBScript와 같은 프로그래밍 언어도 지원합니다. 또한, 이 장치는 다중 축 스테레오 리토그래피 헤드 (stereo-lithography head) 와 고급 테스트 플랫폼 (test platform) 을 갖춘 고속 생산에 적합하여 단일 주기로 여러 테스트 작업을 실행할 수 있습니다. 또한 I-FLEX는 고급 테스트 알고리즘 라이브러리도 제공합니다. 이러한 알고리즘은 최적의 테스트 범위를 제공하도록 사용자 정의됩니다. 요약하자면, TERADYNE iFlex 는 대용량 애플리케이션을 위한 고성능 통합 테스트 시스템입니다. 이 툴에는 다양한 자산 구성 요소가 포함되어 있어 사용자 정의 (customization) 를 보장하고, 프로그램 개발 기능을 최적화하는 통합 사용자 인터페이스 (Unified User Interface) 를 제공합니다. 이 모델은 또한 고밀도 병렬 처리, 프로그래밍 옵션, 고급 테스트 알고리즘 라이브러리 등을 갖춘 멀티 사이트 테스트를 제공합니다.
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