판매용 중고 TERADYNE iFlex #9183880

테라딘 아이플렉스 (TERADYNE iFlex) 는 동급 최강의 처리량, 사용자 정의 가능한 테스트 기능을 제공하는 최종 테스트 장비로, 이기종 하이믹스 (high-mix) 제조 요구 사항을 위해 특별히 설계되었습니다. 복소수 컴포넌트 (multiple-component) 전자 어셈블리의 테스트 및 검증을 위해 전자 제품 제조 환경에서 사용됩니다. 이 시스템은 논리 회로에서 임베디드 마이크로컨트롤러, 디지털 통신 장비, 디지털 휴대폰 등 모든 것을 테스트할 수 있는 유연한 솔루션을 제공합니다. 이 장치는 고급 하드웨어 설계뿐만 아니라, 안정적이고 효율적인 테스트 도구 제품군을 갖추고 있습니다. 이 기계는 고속 핀 전자 기능을 갖춘 고급 하드웨어 디자인, 최대 1024 핀, 다중 사이트 병렬 테스트, 온보드 파이버 광학을 통한 광학 격리 입력 및 출력, 외부 아날로그 I/O (AIO). 고속 핀 전자 장치 (High-speed pin electronics) 는 큰 핀 수와 복잡한 핀 구조를 가진 보드를 테스트하기 위해 신호를 빠르고 정확하게 클럭하도록 보장합니다. 또한, 이 툴은 여러 사이트를 병렬로 테스트할 수 있으며, 기존의 단일 사이트 테스트 시스템에 비해 처리량이 더 빠릅니다. 이 자산에는 광범위한 테스트 도구와 방법도 있습니다. TERADYNE I-FLEX 모델은 fastscan, ECCO (전자 회로 연속성 최적화) 및 EDIC (전자 디지털/아날로그 통합 기능) 를 포함한 고급 디지털 및 아날로그 테스트 전략을 사용합니다. 이러한 테스트 전략을 통해 장비는 논리 장애, 신호 무결성 문제, 통신 링크 문제, 통신/정보 보안 문제 등 장애 상황을 신속하게 확인할 수 있습니다. 또한 테스트 데이터 전송을 위해 CAN/IEEE 1394와 같은 Industrial Ethernet 프로토콜을 지원하므로 레거시 테스트 시스템과의 간편한 인터페이스가 가능합니다. 게다가, 이 장치는 고객의 요구에 맞게 구성할 수 있습니다. 유연한 하드웨어/소프트웨어 아키텍처를 통해 변화하는 요구 사항을 손쉽게 맞춤 구성할 수 있습니다. 또한 이 시스템에는 여러 개의 오픈 소프트웨어 및 하드웨어 인터페이스가 포함되어 있습니다. 이러한 인터페이스에는 C/C + + API, RTOS (실시간 운영 도구) 및 자산 운영 및 모니터링이 용이한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 가 포함됩니다. IFlex 모델도 신뢰성이 뛰어납니다. 안전성과 신뢰성을 위해 여러 계층의 이중화 (redundancy) 를 갖춘 업계 최고 수준의 품질 (Quality of Quality) 에 맞춰 설계되고 구축됩니다. 하드웨어, 소프트웨어, 내부 아키텍처, GUI 는 모두 엄격한 테스트를 거쳤으며, 최고의 성능과 적절한 결과를 보장합니다. 전반적으로 I-FLEX 장비는 복잡한 전자 제품 어셈블리의 최종 테스트를 위해 고성능, 안정성, 사용자 지정 기능이 뛰어난 솔루션을 제공합니다. 이로써 복잡한 핀 (pin) 구조로 여러 구성 요소 보드를 빠르고 안정적으로 테스트하고 검증할 수 있으며, 전자산업 (Electronics Industry) 제조업체의 변화하는 요구를 충족하는 데 도움이 됩니다.