판매용 중고 TERADYNE Flex #9352127

TERADYNE Flex
ID: 9352127
빈티지: 2005
Tester 2005 vintage.
TERADYNE Flex는 미국 기반 반도체 테스트 장비 제조업체 인 TERADYNE에서 생산 한 고성능 ATE (Automated Test Equipment) 장비입니다. 이 시스템은 IC (Digital Integrated Circuit) 및 반도체 메모리와 같은 반도체 부품의 고속, 정확한 테스트를 위해 설계되었습니다. Flex는 동적 디지털, 아날로그 및 RF 측정을 지원하는 범용 테스트 방법론인 "Dynamic Probe" 아키텍처를 갖추고 있습니다. 이 장치를 사용하면 여러 패키지를 테스트하고, 디바이스 특성화 (device characterization), 패라메트릭 테스트 (parametric testing) 등 다양한 테스트 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 또한 멀티 채널 디지털 테스트 기능과 다양한 임베디드 기능이 있습니다. 이 기계에는 맞춤형 고속 타이밍 모듈이 장착되어 있어 복잡한 디지털 기기에 대한 정확하고 안정적인 테스트 (testing) 가 가능합니다. 고출력 (HPT) 은 물론 고출력 (HPD) 장치 테스트와 임베디드 (임베디드) 테스트를 위한 대형 인터페이스도 지원한다. 테라 딘 플렉스 (TERADYNE Flex) 에는 다이렉트 드라이브 (Direct Drive) 기계 공구가 포함되어 있는데, 이 공구는 여러 테스트를 동시에 수행함으로써 테스트 시간을 단축할 수 있도록 설계되었습니다. 이 DD (Direct Drive) 기계적 자산은 고출력 장치를 테스트할 때 추가 정확도를 제공하는 데에도 사용됩니다. 이 모델에는 테스트 화면을 탐색하고 테스트 장비에서 다른 외부 시스템으로 정보를 전송하는 데 사용되는 사용자 친화적 GUI (Graphic User Interface) 도 포함되어 있습니다. 또한, 시스템은 내장 DSP (Digital Signal Processor) 를 통해 높은 수준의 반복 가능한 테스트 감지 및 측정을 보장합니다. 이 DSP는 장치 데이터를 분석하고 장치 특성에 대한 정확한 피드백을 제공하는 데 사용됩니다. 이 장치는 또한 직관적 인 프로그래밍 플랫폼 (programming platform) 과 테스트 함수 라이브러리 (library of test function) 를 갖추고 있으며, 이를 통해 기계를 기존 테스트 플랫폼에 쉽게 통합할 수 있습니다. 기본적으로, 플렉스 (Flex) 는 반도체 부품에 대한 효율적이고 정확한 테스트를 제공하기 위해 설계된 고급 테스트 도구입니다. 테라디네 플렉스 (TERADYNE Flex) 는 고성능 동적 테스트 (Dynamic Testing) 기능과 사용자 친화적 인 설계 및 직관적인 프로그래밍 프레임워크를 통해 반도체 장치 제조업체를 위한 안정적이고 강력한 테스트 솔루션을 제공합니다.
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