판매용 중고 TERADYNE / EAGLE APU-10 #9190821

TERADYNE/EAGLE APU-10은 혼합 신호 및 고속 디지털 장치 테스트 요구 사항을 갖춘 어플리케이션을 위해 설계된 고속, 고해상도 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 마이크로 컨트롤러, DSP, FPGA, SoC 등 다양한 디지털 장치를 테스트할 수 있습니다. EAGLE APU-10은 고속 테스트 처리량으로, 최대 400MHz 속도와 높은 핀 카운트 장치의 경우 시간당 최대 1000,000 MT (Transitions) 의 속도로 수행 할 수 있습니다. 이 장치는 또한 프로그래밍 가능하며, 테스트 요구 사항을 신속하게 변경하고 업데이트할 수 있습니다. 이 기계는 다양한 신호 및 장치를 처리하도록 제작되었으며 QFP, BGA, SOIC 등의 다양한 패키지 유형을 수용 할 수 있습니다. TERADYNE APU-10에는 업계 표준 테스트 알고리즘의 통합 라이브러리가 포함되어 있으며, 온보드 오실로스코프로 실시간 디버그를 지원하며, 강력한 분석 및 보고 기능이 있습니다. 또한 로드 보드 제어 (load board control) 기능을 통해 수동 작업 오류를 제거하고 처리 시간을 늘릴 수 있습니다. APU-10은 포괄적인 테스트 범위를 제공하며, 테스트 결과의 정확성을 보장하는 데 도움이 되는 기본 제공 리소스를 제공합니다. 에셋은 또한 사용 편이성을 위해 설계되었으며, 모든 모델의 기능에 빠르게 액세스할 수 있는 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 제공합니다. 이 장비는 다양한 타사 소프트웨어 패키지와 사용자 정의 (customized) 및 통합 (integrated) 이 가능하므로 고객의 특정 요구에 따라 테스트 요구사항을 사용자 정의할 수 있습니다. 이 시스템은 견고한 제조 테스트 능력 (Strust Manufacturing Testability) 으로 설계되어 다양한 산업 환경에서 안전한 운영에 최적화되어 있습니다. 이 기계에는 자체 테스트 기능 (self-test capability) 및 통합 테스트 프로그램 검증 (integrated test program validation) 과 같은 안전 기능이 포함되어 있어 인력 및 환경에 의도하지 않은 피해를 입히지 않습니다. 전반적으로 TERADYNE/EAGLE APU-10 은 높은 테스트 성능과 다양한 기능을 제공하여 다양한 애플리케이션의 요구 사항을 충족합니다. 이 도구는 최대 사용 편의성을 위해 설계되었으며, 고속 (high-speed) 디지털 장치 테스트 요구 사항을 갖춘 어플리케이션에 적합합니다.