판매용 중고 TERADYNE DC75 #9183295

TERADYNE DC75 는 다양한 전자 제품의 최종 테스트를 자동화하는 포괄적인 장비입니다. 첨단 기능을 갖추고 있어 효율적이고 정밀한 테스트를 위한 포괄적인 솔루션을 제공합니다 (영문). TERADYNE DC-75 시스템은 5 개의 주요 구성 요소를 포함하는 모듈 식 아키텍처를 사용합니다. VME (Mainframe) 는 장치의 설정 및 작업을 제어하고 VXI (Subframe) 는 테스트 도구를 포함합니다. 메인프레임에는 고속 CPU, 서보 컨트롤러, 아날로그 및 디지털 I/O 및 통신 포트가 포함됩니다. 4 개의 서브 프레임 (각각 자체 CPU 포함) 은 성공적인 테스트 시퀀스에 필요한 테스트 기기를 통합합니다. 통합 비전 머신 (Integrated Vision Machine) 은 테스트 프로세스 중에 귀중한 피드백을 제공하는 반면, 유연한 Probe 카드 어셈블리는 테스트 DUT과 도구 사이에 접촉하는 데 사용됩니다. 이러한 기능은 호환 가능한 제품 테스트 기능의 범위를 증가시켜 DC 75 (DC 75) 를 복잡한 회로 기판 테스트에 적합하게 만듭니다. DC-75는 현재 사용 가능한 가장 고급 테스트 기술을 제공합니다. 종합적인 자동 테스트 제품군에는 공정 측정, 고속 디지털, 아날로그, RF, 레이저 및 X- 선 테스트가 포함됩니다. 이 자산은 또한 강력한 수익률 보고 (Yield Reporting) 기능을 통해 포괄적인 성능 및 패라메트릭 (Parametric) 테스트를 제공하며, 유연성과 확장성을 제공하며, 사용자가 모델의 테스트 기능을 사용자 정의하고 확장할 수 있도록 합니다. 마지막으로, 광범위한 고속 데이터 저장 (High Speed Data Storage) 옵션을 통해 테스트 주기당 최대 수백만 개의 테스트 데이터 기록을 저장할 수 있습니다. 보안 기능이 내장되어 있으므로, 이러한 데이터를 다양한 형식으로 안전하게 전송하고, 표준 (Standard) 데이터베이스와 사용자 정의 (Custom) 데이터베이스에 저장하여 분석할 수 있습니다. DC75 는 강력하고 포괄적인 최종 테스트 장비 (final test equipment) 로서, 운영 환경에서 가장 까다롭고 까다로운 애플리케이션의 요구를 충족할 수 있도록 설계되었습니다. 모듈식 (modular) 아키텍처와 다양한 고급 (advanced) 기능을 통해 전자식 테스트 시스템의 정확성, 품질, 처리량을 높이고자 하는 기업을 위한 완벽한 선택입니다.