판매용 중고 TERADYNE Catalyst #9205872

TERADYNE Catalyst는 전자 제품 제조 및 테스트 환경에 사용되는 최종 테스트 장비입니다. 제조 결함, 어셈블리 오류, 컴포넌트 결함에 대한 컴포넌트 및 보드를 빠르고 정확하게 평가하도록 설계되었습니다. 이 시스템은 다양한 테스트 유형에 사용할 수 있는 다양한 특수 테스트 모듈 (specialized test module) 로 구성됩니다. 경계 스캔, JTAG, ICT, 회로 내 및 기능 테스트를 수행 할 수 있습니다. Catalyst Unit은 사용자 지정 가능한 모듈식 아키텍처를 사용하여 사용자가 원하는 대로 구성할 수 있습니다. SoC, SIP, BGA 및 QFP 장치와 같은 다양한 보드 및 구성 요소를 테스트하는 데 사용할 수 있습니다. 이 시스템에는 경계 스캔 테스트 모듈 (boundary scan test module), 통합 테스트 모듈 (integrated test module), 기능 테스트 모듈 (function test module) 등 여러 테스트 모듈이 있습니다. 경계 스캔 테스트 모듈을 사용하여 핀 패턴 충돌, 반바지, 열기, 약한 핀 등을 감지할 수 있습니다. 통합 테스트 모듈은 디지털 (digital) 및 아날로그 (analog) 테스트에 사용되며, 기능 테스트 모듈은 공구 수준 테스트에 사용됩니다. TERADYNE Catalyst 에셋은 또한 고속 프로그래밍 가능한 프로세서를 갖추고 있으며, 이 프로세서는 다른 테스트 시스템보다 최고 6 배 빠른 속도로 고급 테스트를 실행할 수 있습니다. 또한 자체 테스트 기능 (Self Test Feature) 을 통해 모델이 테스트 중에 발생하는 오류를 자동으로 진단하고 문제를 해결할 수 있습니다. 이 장비는 또한 여러 보드를 동시에 테스트할 수 있어 테스트 처리량 (test throughput) 과 효율성 (efficiency) 이 향상되었습니다. Catalyst 시스템은 다양한 구성 가능한 소프트웨어 툴 (Software Tools) 로 구축되어 있어 정교한 테스트 애플리케이션을 설계하고 제어할 수 있는 유연성을 제공합니다. 이러한 소프트웨어 도구를 사용하면 사용자 정의 테스트 프로그램을 만들고, 장치 설정을 조정하고, 시스템 성능을 모니터링할 수 있습니다. 또한 소프트웨어 툴은 가상 머신 (Virtual Machine) 기술을 지원하므로 여러 테스트 프로그램을 동시에 실행할 수 있습니다. 이 툴은 또한 고급 데이터 분석 (advanced data analysis) 기능을 활용하여 테스트 결과에 대한 자세한 분석 및 보고를 제공합니다. 따라서 사용자가 문제 영역을 신속하게 파악하고 장애 원인을 정확히 파악할 수 있으며, 이를 통해 문제를 신속하게 해결할 수 있습니다 (영문). 또한, 자산 보고서는 테스트 요약 정보 (예: pass/fail status) 를 보고하며 디버그 및 추적 기능도 제공합니다. 전반적으로, TERADYNE Catalyst는 강력하고 다양한 테스트 모델이며, 광범위한 전자 부품 및 보드를 테스트 할 수 있습니다. 빠른 주기 (cycle time) 를 통해 정확한 테스트 결과를 제공하므로 테스트 비용을 절감하고 제품 품질을 향상시킬 수 있습니다. 종합적인 소프트웨어 툴과 고급 데이터 분석 (data analysis) 기능을 통해 소규모/대규모 전자 제품 제조/테스트 환경 모두에 적합한 솔루션을 선택할 수 있습니다.