판매용 중고 TERADYNE Catalyst D200 #199659
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ID: 199659
Test System
400 MHz host system
256 channels,
256-channel digital system
VHF AWG 400 Differential
400 MHz analog differential signal arbitrary waveform generator system
VHF AWG 1200
1200 MHz UHF arbitrary waveform signal system
VHF DIG 1G
The 1 GHz ultra-high-frequency digital system.
TERADYNE Catalyst D200 최종 테스트 장비는 고성능 완전 자동 회로 내 테스트 (ICT) 솔루션입니다. 조립된 PCB (인쇄 회로 기판) 를 빠르고 정확하게 테스트하도록 설계되었습니다. 자동화된 테스트 프로세스 (automated test process) 를 통해 각 보드는 최고 수준의 정확도 및 반복성 (repeatability) 으로 테스트되므로 설계 사양을 충족하는 보드만 제조 프로세스의 다음 단계로 릴리즈됩니다. Catalyst D200은 일반적인 디지털 패턴 생성기 (digital pattern generator), 고주파 (high-frequency) 기능 및 32 개의 독립 데이터 수신 채널을 갖추고 있어 많은 테스트 애플리케이션의 요구를 충족합니다. 컨트롤러는 4단계 패라메트릭 (parametric) 테스트를 지원하므로 각 PCB에서 광범위한 매개변수를 테스트할 수 있습니다. 이 장치에는 기계 수준 컨트롤의 통합을 위한 로컬 I/O 랙 (Local I/O Rack) 과 심층 테스트 및 진단을 위한 고전압 모듈 (High-Voltage Module) 도 포함되어 있습니다. 이 시스템은 다양한 수준의 메모리 (memory) 및 처리량 (throughput) 기능을 제공하여 고밀도 및 고속 어셈블리와 복잡한 테스트 요구 사항을 갖춘 멀티 보드 시스템을 테스트하는 데 적합합니다. 이 장치는 고성능 벡터 엔진으로 구동되므로, 매우 복잡한 벡터 패턴을 2.5 마이크로 초 이내에 실행할 수 있습니다. 이를 통해 어셈블리에 도전하는 중요한 기능인 여러 패턴을 쉽게 병렬로 처리할 수 있습니다 (영문). TERADYNE Catalyst D200은 고정장치 보드, 실드, 고성능 Probe 카드와 같은 여러 보조 보드 구성과 원활하게 통합되어 기존 제조 공정에 쉽게 통합할 수 있습니다. 또한 간편한 설치 및 작동을 위한 사용자 친화적 GUI (Graphical User Interface) 와 원격 진단 및 공장 자동화 시스템과의 통신을 지원하는 소프트웨어 (옵션) 를 제공합니다. 이 다용도 테스트 시스템에는 내장 BURN (Burn-in) 및 온도 모니터링 기능이 포함되어 있어 고성능 및 고전압 어셈블리에 적합합니다. 또한 고급 패턴 인식 (pattern recognition) 기술을 통해 미묘한 결함을 감지하고 보드 수준의 탈출을 줄일 수 있습니다. Catalyst D200 의 아키텍처는 확장성과 유연성을 극대화할 수 있도록 설계되었습니다. 즉, 변화하는 요구 사항에 맞게 구성을 쉽게 업그레이드하거나 확장할 수 있습니다. 전반적으로 TERADYNE Catalyst D200은 강력하고 효율적이며 안정적인 ICT 테스트 솔루션을 제공하여 가장 복잡한 어셈블리까지도 빠르고 정확하게 테스트할 수 있습니다. 다양한 기능 세트와 확장성 (Scalability) 을 갖춘 이 자산은 견고하고 정밀도가 높은 테스트를 원하는 모든 운영 환경에 이상적인 선택입니다.
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