판매용 중고 TERADYNE A565 #9006373

TERADYNE A565
최종 테스트 장비
제조사
TERADYNE
모델
A565
ID: 9006373
VLSY-System, CT69 Configuration: ct69t is a 1 processor system Processor 1: 440 MHz sparc (online) PCI based system Terabus is present Board ID 949-824-00 TCI is present PATH_II_TH 1 CONFIGID 949-688-01 #Slot Type Num XptA XptB Name 1 879-943-01 0 # 0 0 H50 TDR 2 879-936-00 0 # 0 0 H50 THS 3 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH 4 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH 5 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH 6 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH 7 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH 8 879-935-51 0 # 0 0 H50 DTH 17 000-000-00 0 # 5 6 EMPTY 18 879-858-25 0 # 7 8 PLFS CC 19 879-858-35 0 # 9 10 PLFD CC 20 879-853-01 0 # 11 12 HF DIG CC 21 000-000-00 0 # 13 14 EMPTY 22 879-906-04 0 # 15 16 VHFAWG CC 23 879-792-00 0 # 17 18 TIME CC 24 879-906-04 0 # 19 20 VHFAWG CC 25 879-754-00 0 # 21 22 CDIG CC 11 879-656-00 0 # 0 0 RDC48 15 949-679-00 0 # 3 3 HUC 200 12 879-653-00 0 # 0 0 HAC 13 879-654-00 0 # 0 0 TACH 14 879-667-01 0 # 0 0 PATH II CAL 16 879-834-01 0 # 0 0 Analog Data Buffer AL END PATH_II_TH 2 CONFIGID 949-688-01 #Slot Type Num XptA XptB Name 1 879-943-01 0 # 0 0 H50 TDR 2 879-936-00 0 # 0 0 H50 THS 3 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH 4 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH 5 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH 6 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH 7 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH 8 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH 17 000-000-00 0 # 5 6 EMPTY 18 879-858-25 0 # 7 8 PLFS CC 19 879-858-35 0 # 9 10 PLFD CC 20 879-853-01 0 # 11 12 HF DIG CC 21 000-000-00 0 # 13 14 EMPTY 22 879-906-04 0 # 15 16 VHFAWG CC 23 879-792-00 0 # 17 18 TIME CC 24 879-906-04 0 # 19 20 VHFAWG CC 25 879-754-00 0 # 21 22 CDIG CC 11 879-656-00 0 # 0 0 RDC48 15 949-679-00 0 # 3 3 HUC 200 12 879-653-00 0 # 0 0 HAC 13 879-654-00 0 # 0 0 TACH 14 879-667-01 0 # 0 0 PATH II CAL 16 879-834-01 0 # 0 0 Analog Data Buffer AL END # # Up to 4 Precision AC Card Cages are allowed # PRECISION_AC 1 #Slot Type Num Name 1 879-765-04 0 # PLFDIG 2 879-764-01 0 # PLFSRC 3 879-779-00 0 # 1M SMEM 4 879-772-01 0 # HFDIG 5 879-742-20 0 # CMEM 6 949-608-00 0 # VHFAWG 7 949-608-00 0 # VHFAWG 8 879-781-00 0 # PACS CAGE INT END # # Up to 8 Universal Backplane/Synch Power Subsystem # cages are allowed # # For the Synch Power Subsystem: # Slot Type Name Instr1 # Instr2 # Ammeter # # # Instr1 # - insrument connected to the first two matrix lines # Instr2 # - insrument connected to the last two matrix lines # Ammeter # - ammeter connection # to AVOID errors, put NO 0 if no instrument is connected. # # UB_SPS_CAGE 1 # Slot Type Num Name 1 879-802-02 0 # UB_SPS_802 2 517-301-00 0 # UB_APU 3 517-301-00 0 # UB_APU 4 517-301-00 0 # UB_APU 5 517-301-00 0 # UB_APU 6 517-301-00 0 # UB_APU 7 517-301-00 0 # UB_APU 8 517-301-00 0 # UB_APU 9 517-301-00 0 # UB_APU 10 517-301-00 0 # UB_APU 11 517-301-00 0 # UB_APU 12 517-301-00 0 # UB_APU 13 517-301-00 0 # UB_APU 14 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC MAT 1 15 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC MAT 2 16 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC DUT 1 17 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC DUT 2 20 879-690-00 0 # UB_ASY 22 517-300-00 0 # UB_TJ300 END HSD50_CHAN_CAGE 1 #Slot Type Num Name 1 879-933-65 0 # HSD25 DMF 2 879-933-65 0 # HSD25 DMF 3 879-933-65 0 # HSD25 DMF 4 879-933-65 0 # HSD25 DMF 5 879-934-01 0 # H50 MFS 6 879-933-65 0 # HSD25 DMF 7 879-933-65 0 # HSD25 DMF END HSD50_SEQ_CAGE 1 #Slot Type Num Name 2 879-945-01 0 # H50 AFO 4 879-942-05 0 # H50 SFO 5 879-934-01 0 # H50 MFS 6 879-937-02 0 # H50 SCM 7 879-938-01 0 # H50 DMC END HSD50_DIG_SIG_CAGE 1 #Slot Type Num Name 1 879-953-00 0 # VBF 2 879-939-01 0 # DSI 3 879-745-00 0 # S_MEM 4 879-957-00 0 # DCB 5 879-742-40 0 # C_MEM 9 879-731-00 0 # CAGE INTR END # # Trigger Switch Yard # # Note: The logical slot numbers below correspond to the physical slot # numbers only for test systems which contain a TSY card # cage. In test systems which contain an SCS/TSY card cage the # mapping is: # # Logical TSY slot (below) Physical slot # 1 -> 2 # 3 -> 1 # TSY CAGE #Slot Type Num Name 1 879-655-02 0 # TSY 2 000-000-00 0 # EMPTY 3 000-000-00 0 # EMPTY 4 000-000-00 0 # EMPTY END # # Time Subsystem # TIME_SUBSYSTEM # Board ID Name 879-793-00 # TMS Timer 879-794-01 # TMS Counter 879-795-01 # TMS Support END # # DC Subsystem - # # SRC <NUM> [1 - 13] # (sources 1-5 are MATRIX sources 1-5 # sources 6-13 are DUT sources 1-8) # HCU <NUM> *[1 - 4] # REF HCU <NUM> *[1 - 4] # HVSRC <NUM> *[1 - 4] # PWRSRC <NUM> [1 - 4] # DATABITS <NUM> - <NUM> [1 - 192] # # ** These instruments share the same seven-slot cage -- only one # instrument is allowed per slot. # DC_SUBSYSTEM # UBVI 60 1 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 14) # UBVI 60 2 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 15) HCU 4 # UBVI 60 6 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 16) # UBVI 60 7 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 17) HCU 8 DATABITS 1 - 48 # UB_MATRIX # # Testhead 1 # XPTs UB Cage Slot Type # 1-4 1 2 APU # 5-8 1 3 APU # 9-12 1 4 APU # 13-16 1 5 APU # 17-20 1 6 APU # 21-24 1 7 APU # 25-28 1 8 APU # 29-32 1 9 APU # 33-36 1 10 APU # 37-40 1 11 APU # 41-44 1 12 APU # 45-48 1 13 APU # # Testhead 2 # XPTs UB Cage Slot Type # 1-4 1 2 APU # 5-8 1 3 APU # 9-12 1 4 APU # 13-16 1 5 APU # 17-20 1 6 APU # 21-24 1 7 APU # 25-28 1 8 APU # 29-32 1 9 APU # 33-36 1 10 APU # 37-40 1 11 APU # 41-44 1 12 APU # 45-48 1 13 APU END.
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TERADYNE A565는 반도체 업계의 고성능 애플리케이션을 위해 설계된 최첨단 "최종 테스트" 장비입니다. SMB (Small Device Volume) 와 대용량 디바이스 볼륨을 모두 테스트하는 포괄적이고 효율적인 시스템입니다. 완전자동 테스터 (Tester) 로, 주기 시간을 줄이고 미세한 피치 프로브를 개선하는 향상된 병렬 조사 기능을 제공합니다. 기계적 구성은 반도체 산업에 대한 최적의 테스트 범위를 확보하도록 특별히 설계되었습니다. 이 장치는 또한 운영 효율성을 높이고, 대규모 테스트 아키텍처를 관리하고, 테스트 비용을 절감하도록 조정되었습니다. A565 는 사용자 정의가 가능하고 확장성이 뛰어난 플랫폼으로, 생산/개발 과정에서 여러 테스트의 요구를 모두 충족합니다. 우월성은 모듈 식 디자인에서 비롯됩니다. 고급 모듈식 아키텍처 (Advanced modular architecture) 를 통해 여러 테스트 컴포넌트를 단일 프레임으로 결합 할 수 있습니다. 또한 필요에 따라 자동 테스트 장비 (ATE), 전원 공급 장치, 기타 기기와 같은 관련 장비에도 연결할 수 있습니다. TERADYNE A565를 구성하는 주요 구성 요소는 특수 테스트 머신 플랫폼, testhead, 플랫폼 커넥터, 테스트 패드, 프로버 및 이미지 캡처입니다. 이러한 모든 컴포넌트가 모여서 완전한 도구를 형성합니다. 테스트 자산 플랫폼에는 테스트 제어 소프트웨어 및 그룹 동기화 소프트웨어가 포함되어 있습니다. 테스트 헤드 (testhead) 에는 테스터의 측정 기능 할당 및 제어를위한 소프트웨어 프로그램이 포함되어 있습니다. 플랫폼 커넥터는 휘발성 메모리와 지정된 테스트 영역 (test area) 간에 강력한 통신을 가능하게 합니다. 테스트 패드 (test pad) 는 프로버를 장착하고 테스트 모델 환경에서 최적의 프로브를 제공하는 서피스입니다. 프로버는 테스트 중 장치 (DUT) 의 전기 특성을 측정하는 특수 장치입니다. 마지막으로, 이미지 캡처는 테스트 중인 장치의 이미지를 캡처하고 저장합니다. A565 (A565) 는 신뢰성이 높은 장비로, 매우 빠른 속도와 높은 용량으로 성능을 발휘할 수 있도록 설계되었습니다. 또한 고속 작업과 동적으로 변화하는 조건에 신속하게 대응할 수 있습니다. "테스트 '" 시스템' 은 최대 0.6um 해상도 를 감지 할 수 있는 정밀 탐지 장치 로 매우 정밀 하고 정확성 있게 설계 되었다. 또한 고급 터치 불감증 프로브 (Probe) 기술을 통해 높은 신뢰성 테스트에 대한 탁월한 프로빙 정확성을 제공합니다. 기능을 보완하기 위해 TERADYNE A565는 자동 Probe Wash-Down, 자동 Fail History 및 Vision-Guided Device Probing을위한 고급 Vision 시스템과 같은 선택적 기계 기능을 수용 할 수 있습니다. 또한 ATPG (Automatic Test Program Generation) 기능과 여러 진단 옵션을 제공합니다. 이 모든 기능을 통해, A565 는 효율적이고 비용 효율적인 반도체 테스트 솔루션의 선두 주자로 입증되었습니다.
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