판매용 중고 TERADYNE A565 #293662644

테라 딘 A565 (TERADYNE A565) 는 다양한 프로덕션 어플리케이션에서 효율적이고 안정적인 운영을 위해 설계된 최종 테스트 장비입니다. A565는 ATPG (Automatic Test Program Generation), 메모리 BIST 테스트, 동적 논리 BIST와 같은 다양한 고급 테스트 기술을 통합하여 탁월한 테스트 적용 범위와 속도를 제공하는 고도로 통합된 아키텍처를 갖추고 있습니다. SoC (System-on-Chip) 에서 보드 레벨 테스트, 종합적인 장치 수준 솔루션 등 다양한 테스트 기능을 사용할 수 있습니다. TERADYNE A565는 최신 임베디드 및 FPGA 기반 하드웨어를 사용하여 정확도나 처리량을 손상시키지 않고 복잡한 테스트 알고리즘을 처리합니다. 확장 가능한 메모리 리소스, 2.5GB ~ 20GB DDR3 메모리, 이더넷, USB, 직렬, CAN 및 맞춤형 I/O를 포함한 다양한 I/O로 구성할 수 있습니다. 또한 A565는 다양한 오류 수정 기능과 내장 이중화로 보호됩니다. 또한 TERADYNE A565는 데이터 로깅 및 히스토그램 분석, 결함 분석, 도식 및 파형 비교, 서명 분석 및 ATPG (Automatic Test Program Generation) 진단을 호출하는 기능과 같은 고급 분석 기능을 제공합니다. 또한, 사용자 지정 진단 솔루션을 신속하게 구축하기 위한, 사전 정의된 진단 소프트웨어 구성 요소의 강력한 라이브러리를 제공합니다. 또한 A565 는 클로즈드 루프 (closed-loop) 디버깅 (debugging) 과 같은 최신 강력한 디버깅 툴을 지원하며, 이를 통해 컴퓨터에 있는 다른 디바이스의 신호를 방해하지 않고 칩을 테스트하고 디버깅할 수 있습니다. 또한, 복잡한 칩을 빠르고 안전하게 디버깅할 수 있는 통합 에뮬레이션 기능과 실리콘 (silicon) 검증 디버깅 기능이 포함되어 있습니다. 결론적으로, TERADYNE A565 는 다양한 프로덕션 시나리오에서 다양한 통합/보드 레벨 (integrated/board-level) 구성요소를 효율적으로 테스트하기 위해 강력하고 신뢰할 수 있는 테스트 플랫폼이 필요한 고객에게 적합합니다. 다양한 고급 기능을 제공하는 이 툴은 탁월한 테스트 범위, 속도, 신뢰성 등을 제공합니다. 운영 테스트 환경을 위한 완벽한 솔루션입니다.