판매용 중고 TERADYNE A565 #293631738
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ID: 293631738
Tester
Computer: SUN Ultra5, SUN Ultra10
(48) AAPU
(48) DMF
(8) OVI
(2) UBVI_DUT
(4) UBVI MAT
LFAC Source
LFAC Digitizer
MFS
(36) ExSDB
(48) SDB
TMS
PACS INT
Testhead 1 and 2:
PATH II
TDR
THS
(40) HSD
(8) HSD HV
LFAC CC
(8) OVI CC
Time CC
(48) RDC48
HUC200
HAC
TACH
PATH II CAL
ADB CC.
테라 딘 A565 (TERADYNE A565) 는 멀티 사이트 테스트 기술의 최신 발전과 대용량 생산의 이점을 결합한 고급 최종 테스트 장비입니다. A565는 2017 년에 출시된 최신 기술로 개발되었으며, 최대 6 개의 병렬 사이트를 통해 새로운 와트 등급 및 아키텍처를 효율적으로 테스트, 검증하고, 더 높은 테스트 효율성, 탁월한 처리량, 탁월한 확장성을 제공합니다. 유연한 테스트 (Flexible Testing) 를 지원하기 위해, 시스템은 정밀성 없이 테스트 프로그램 사이를 빠르게 전환할 수 있습니다. 고속 병렬 처리기는 시간당 최대 25,000 개의 다이 (die) 를 테스트 할 수 있으며, 정확한 단위는 수명주기 테스트 및 연속성 검증을 정확합니다. 종합적인 폼 팩터와 유연성을 통해 machine-in-package, cellular device, analog testing 등 다양한 애플리케이션에서 사용할 수 있습니다. FailSafe 설계와 모듈식 구조로 인해 디바이스 파손의 위험이 줄어들고, 변경 시간이 최소화됩니다. 이 도구는 RoHS 및 ATEX (Automatic Test Equipment) Certification Worldwide를 포함한 최신 업계 표준을 준수하는 것으로 검증되었습니다. 테라 딘 A565 (TERADYNE A565) 는 비전 기술을 통해 구성 요소를 매우 정확하게 검사하고 검사하는 틸팅 비전 카메라를 갖추고 있습니다. A565에는 지속적이고 안정적인 작동을 위해 다양한 기능이 장착되어 있습니다. 이러한 기능에는 향상된 구성 요소 셰이커 진동을 위한 다중 전압 공압 자산, 향상된 시력 왜곡 수정, 향상된 테스트 데이터를 위한 SmartSet Graphical User Interface (GUI) 를 통한 맞춤형 테스트 흐름 관리자, 메모리 보드 및 핀 전기 특성화가 포함됩니다. 또한, 이 모델은 실시간 진단을 통합하여 지속적인 자가 점검 (self check) 을 수행하며 직관적인 오픈 루프 (open-loop) 방법을 통해 고급 성능 제어를 제공하여 보다 복잡한 진단 및 제어를 가능하게 합니다. 이 장비는 모듈식 (modular) 설계로 추가 사용자 정의할 수 있으므로 자동화된 테스트 장비와 원활하게 통합할 수 있습니다. TERADYNE A565의 표준 설치에는 전력 분배 보드, RF 측정 보드, PXI 백플레인 및 기존 테스트 소프트웨어와의 호환성을 보장하는 C++ 프로그래밍이 포함됩니다. 또한 Profiler Analysis, Data Clip Automation, SyncMyTester System 및 Statistical Process Control을 사용하여 선택적으로 설치할 수 있습니다. 테스트 프로세스를 최적화하고 어셈블리 회선 지연을 방지하기 위해 A565에는 강력한 DataViewer Operator Panel이 장착되어 있어 웨이퍼 위치와 자동 테스트용 진단 도구 상자 (Diagnostics Toolbox) 를 모니터링할 수 있습니다. 또한 추적 모드, 이벤트 로그 스냅샷, 자동 코드 스택 분석 등 고급 디버깅 기능도 포함되어 있습니다. 또한, C # 으로 장치를 프로그래밍하여 테스트 정확성과 반복성을 높일 수 있습니다. 전반적으로 TERADYNE A565 (TERADYNE A565) 는 최대한의 신뢰성과 정확성을 갖춘 대용량 생산을 제공하는 첨단 종합 테스트 머신입니다. 유연한 설계와 직관적인 GUI 를 통해 광범위한 애플리케이션을 위한 최고의 솔루션이 됩니다. 이 제품은 높은 처리량과 확장성을 제공하지만, 디바이스 중단 (device breakage) 및 변경 (changeover) 시간을 줄일 수 있습니다. 고급 기능은 또한 높은 정밀 테스트와 편안한 사용자 환경을 보장합니다.
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