판매용 중고 TERADYNE A565 #293589416

TERADYNE A565 Final Test Equipment는 프로세서 집약적 어플리케이션의 대용량 테스트 요구를 충족하도록 설계되었습니다. 통합 테스트 매개변수, 빠른 주기 시간, 낮은 TCO (소유 비용) 를 제공하는 모듈식, 소프트웨어 프로그래밍 가능 테스트 시스템입니다. 이 장치는 메모리, 아날로그, 디지털, 마이크로 컨트롤러 및 SoC (machine on chip) 장치 테스트에 사용할 수 있습니다. 다양한 DSPVuo 이미징 (신호 대 잡음 비율 향상) 을 통해 높은 테스트 품질을 필요로 하는 복잡한 설계를 테스트합니다. DSP (Advanced Digital Signal Processor) 및 VUO (Digital Vector Unit) 기술을 활용하여 고속, 고속 테스트 솔루션을 지원합니다. 이 도구는 또한 다양한 테스트 기술과 매개변수를 병렬로 실행할 수 있으며, 최대 200 Mpoints/sec의 테스트 처리량과 최소 0.35ms의 테스트 시간을 허용합니다. 이 자산은 테스트 프로세스 흐름에 쉽게 통합될 수 있으므로 테스트 프로그램, 테스터 하드웨어 (Tester Hardware), 관련 소프트웨어 등을 완벽하게 통합할 수 있습니다. A565는 TERADYNE 응용 프로그램 엔지니어링 (Application Engineering) 팀에서 개발하고 테스트 관행의 최첨단을 나타내는 대규모 참조 라이브러리 (reference library of product-specific test) 를 제공합니다. 또한 사용자는 테스트를 사용자 정의하고, 자체 테스트를 생성하며, 메모리 DIMM 테스트, 장비 순차 테스트, 아날로그, 전원, 소음 모니터링 등 최종 테스트에 대한 다양한 제어 옵션을 사용할 수 있습니다. 또한 테스트 설정 (test-setup) 및 매개변수 선택을 완벽하게 제어할 수 있는 직관적인 GUI 와 테스트 (test) 및 정렬을 위한 메뉴 기반 지침을 제공합니다. 고급 장치 진단 (Advanced Unit Diagnostics) 은 향상된 정확성과 신뢰성, 다운타임 감소, 디버그 시간 단축 등의 이점을 제공합니다. 또한이 기계는 TERADYNE 특허 Echo 테스트 및 Diagnostic Fixture로 테스트 정확성을 보장하여 테스트 조건을 실시간으로 검증합니다. TERADYNE A565 는 대용량 생산 테스트에 이상적인 솔루션으로, 다양한 테스트 요건을 충족할 수 있습니다. 고급 테스트 도구 기능, 고속 주기 시간, 향상된 신호 대 소음 비율, 고급 진단 및 사용자 친화적 인 인터페이스를 갖춘 A565는 프로세서 집약적 제품 테스트를 위한 효율적이고 저렴한 솔루션을 제공합니다.