판매용 중고 TERADYNE A535 #9272592

TERADYNE A535 Final Test System은 생산 중 반도체 장치의 최종 확인 테스트를 수행하기위한 자동 테스트 장비 (ATE) 입니다. 가장 일반적으로 발견되는 형태로, A535는 독점 백플레인 아키텍처를 사용하여 최대 4 개의 Vector 및 4 개의 Digital Module을 연결할 수 있습니다. Vector Module 또는 Series 5000 System은 디지털 및 아날로그 회로에 대한 고속 테스트를 위해 설계되었습니다. 산업 표준 IEEE 1149.1 TAP (Test Access Port) 는 JTAG (Boundary-scan) 테스트를 수행하기 위해 제공됩니다. Vector Module에는 FPI (Series 5000 Fast Parallel Interface) 또는 두 가지 조합을 사용하여 디지털 IC 테스트 기능이 장착될 수 있습니다. 벡터 모듈 (Vector Module) 의 빠르고 효율적인 작동을 통해 테스트 시간을 줄이고 프로그래밍 오버헤드를 최소화할 수 있습니다. Digital Module 또는 Series 3000 System은 디지털 IC에 대한 비용 효율적인 테스트를 제공하도록 설계되었습니다. 여기에는 고전압 및 저전압 프로그래밍 가능한 비교기를 포함하여 디지털 자극을 생성하고 측정하는 회로가 포함됩니다. 이 모듈은 메모리와 같은 최대 8개의 외부 디지털 장치를 지원합니다. 또한 Digital Module은 고속 PIO (Parallel Input/Output) 포트를 사용하여 생산 중인 논리 IC에 대한 자동 테스트를 제공합니다. TERADYNE A535는 모든 유형의 IC 테스트에 효과적이고 포괄적 인 장치입니다. 고도로 자동화되고 프로그래밍 가능한 테스트 기능을 통해 테스트 중에 인력이 참석할 필요성이 최소화됩니다 (영문). 모든 측정 및 테스트 결과는 데이터베이스에 저장되며, 상세한 분석 및 제품 추적 (Traceability) 을 위해 언제든지 검색할 수 있습니다. 고객은 확장성을 통해 다양한 확장 옵션 (Expansion Option) 중에서 선택할 수 있으므로 운영 요구 사항이 발전함에 따라 테스트 기능을 향상시킬 수 있습니다. 또한, A535 는 새로운 기술과 테스트 전략을 통합하기 위해 소프트웨어 업그레이드 및 구축을 지원하도록 설계되었습니다. 테라디네 (TERADYNE) A535 (A535) 는 생산 테스트의 궁극적 단위로서, 장기 테스트 프로그램과 제품 품질에 대한 헌신이 필요한 반도체 기업에 이상적인 제품이다.