판매용 중고 TERADYNE A360 #9048234

TERADYNE A360은 복잡한 장비 온 칩 (SoC) 장치를위한 포괄적 인 자동 최종 테스트 솔루션입니다. 반도체 업계에서 사용되며, 단일 및 멀티 칩 테스트와 전력 인식 테스트 (power-aware test) 기능을 모두 갖추고 있습니다. 본격적인 자동 테스트 시스템 (Automatic Test System) 인 TERADYNE A 360은 심층적인 테스트 적용 범위와 높은 수준의 테스트 유연성을 제공합니다. A360 은 포괄적인 ATE 기능을 제공하도록 설계된 강력한 하드웨어/소프트웨어 라이브러리를 사용합니다. 하드웨어 구성요소 (예: 테스터, 인터페이스 카드, 컴퓨터 프로세서) 를 단일 플랫폼에 통합하여 통합 테스트 환경을 구축합니다. 그런 다음, 플랫폼의 모듈식 설계를 사용하여 모든 테스트 리소스를 통합, 연결, 관리합니다. 이를 통해 단일 통합 테스트 아키텍처에서 기능, 패라메트릭, 패라메트릭 인 타임, 파워, 의사 랜덤 테스트 등 다양한 테스트 방식을 통합할 수 있습니다. 또한 360에는 여러 장치를 동시에 테스트할 수 있는 기능, 고속 스냅샷 (High Speed Snapshot) 을 통해 특성 및 튜닝 프로세스 속도 향상, 샘플의 병렬 테스트 수행 기능, 전원 인식 테스트 전략 처리 기능 등 다양한 기능이 포함되어 있습니다. 따라서 대용량 테스트를 수행하기에 적합한 솔루션으로, 테스트 시간을 대폭 단축하고, 수익률을 향상시키며, 비용을 절감할 수 있습니다. TERADYNE A360은 다양한 잠재적 테스트 구성, 성능 수준 및 확장성을 제공합니다. 정적, 동적, 고속 테스트를 지원하며, 최대 1500 개의 입력/출력 핀 또는 최대 1500 개의 디지털 테스트 리소스에 사용할 수 있습니다. 이를 통해 광범위한 운영 볼륨/애플리케이션의 요구 사항을 충족할 수 있도록 단위를 손쉽게 확장할 수 있습니다 (영문). TERADYNE A 360의 핵심 기능은 테스트 결과를 실시간으로 관리하고 모니터링하는 기능입니다. 테스트 엔지니어는 컴퓨터의 강력한 API 도구를 활용하여 테스트 실행 데이터를 캡처하고, 결과를 확인하고, 오류 로그를 생성할 수 있습니다. 따라서 테스트 주기 진단 및 디버깅 (debug), 재작업 최소화 및 재시도 비용 절감 효과를 얻을 수 있습니다. 또한 A360 은 모든 지원 서비스 (Support Services) 를 제공하여 사용자가 테스터를 최대한 활용할 수 있도록 합니다. 여기에는 기술 지원, 소프트웨어 유지 보수, 테스트 프로그램 개발/최적화를 지원하는 다양한 리소스 (영문) 가 포함됩니다. 요약하자면, A 360 은 가장 까다로운 애플리케이션의 요구 사항을 충족하도록 설계된 포괄적인 차세대 자동 테스트 툴 (Automatic Test Tool) 입니다. 에셋 온 칩 (Asset On Chip) 테스트를 위한 단순화된 플랫폼을 제공하여 성능, 확장성 및 유연성을 극대화합니다. 또한 강력한 테스트 결과 분석 (Test Result Analysis) 및 2 차 테스트 기능 (Secondary Test Function) 을 제공하여 개발 및 운영 모두에 적합한 옵션을 제공합니다.