판매용 중고 TERADYNE 974-294-00 #9280043

TERADYNE 974-294-00 (TERADYNE 974-294-00) 은 반도체 업계의 엔지니어 및 기술자의 자동화 요구를 충족시키기 위해 설계된 최종 테스트 장비입니다. 복잡한 집적 회로 (integrated circuit) 와 이산 (discrete) 부품을 정확하게 테스트, 디버그, 조정할 수 있는 고성능 시스템입니다. 974-294-00 은 4 개 또는 8 개 슬롯 아키텍처의 모듈식 설계를 활용하여 처리량 향상을 위해 장치당 최대 32 개의 디바이스를 지원합니다. 여기에는 일련의 cPCI 기반 카드 케이지, 백플레인, 패널이 포함되어 있어 사용자의 테스트 요구 사항에 따라 유연하고 맞춤형으로 구성할 수 있습니다. 각 슬롯 (Slot) 에는 여러 디지털 및 아날로그 출력을 제공하는 범용 테스터 카드와 전력, 접지, 자극을위한 디지털 채널이 포함되어 있습니다. 이 카드를 사용하면 테스트 환경을 정확하고 신속하게 설정할 수 있습니다. 또한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스), 자동 테스트 마법사, 내장 온도 모니터 등 여러 가지 사용자 맞춤 설정 옵션이 포함되어 있습니다. TERADYNE 974-294-00 은 데이터 관리 및 로깅 기능이 내장된 대용량 데이터 획득 툴을 제공하여, 여러 테스트 결과를 저장, 정리할 수 있습니다. 또한 GPIB, Ethernet, IEEE-488/USB 등 다양한 연결 옵션을 통해 플랫폼에 관계없이 장비와 데이터를 액세스할 수 있습니다. 자산은 또한 IC의 행동과 성능을 조사하기위한 다양한 실험 및 분석을 제공합니다. 여기에는 내장 장애 분석 모델, 내장 디버깅 장비 (Debugging Equipment), 분석 도구 (Analysis Tools) 등이 포함되어 있어 테스트 환경 및 IC 디버깅을 위한 포괄적인 툴이 제공됩니다. 전체적으로, 974-294-00 은 다양한 기능을 갖춘 고성능, 유연성, 사용자 지정 가능한 자동 테스트 시스템으로, 최종 제품 테스트에서 칩 특성, 분석에 이르기까지 다양한 애플리케이션에 적합합니다. 반도체 업계의 엔지니어와 기술자에게 이상적인 도구입니다.