판매용 중고 TERADYNE 517-457-00/A #9195029

TERADYNE 517-457-00/A
ID: 9195029
CAL DIB Board for IP750EX.
TERADYNE 517-457-00/A 장비는 강력한 최종 테스트 솔루션으로, 높은 처리량과 빠른 전자부품 처리 속도를 제공하도록 설계되었습니다. 인쇄회로기판 (Printed Circuit Board) 에서 칩 (Chip) 상의 시스템에 이르기까지 다양한 구성 요소를 테스트하도록 구성할 수 있는 완전 자동화 시스템입니다. TERADYNE 517-457-00/A에는 UPTM (Universal Programmable Test Module), 고속 스캔 데이터 경로 및 대규모 테스트 프로젝트에 이상적인 기타 많은 고급 기능이 포함되어 있습니다. 모든 유형의 테스트를 실행하도록 UPTM을 프로그래밍할 수 있으며, 이를 통해 빠르고, 정확하며, 신뢰할 수 있는 결과를 얻을 수 있습니다. 고속 스캔 데이터 경로는 TERADYNE 517-457-00/A 유닛이 대규모 데이터 세트를 신속하게 처리할 수 있도록 설계되어 있어 광범위한 디버깅 단계가 필요 없습니다. 따라서 테스트 비용과 시간을 줄일 수 있습니다. 이 기계는 4 개의 독립적 인 PLC (programmable logic controller) 로 구동되며, 이는 다양한 유형의 테스트에 유연성을 제공합니다. 이 도구에는 또한 6축 서보 에셋 (servo asset) 이 장착되어 있어 효율적이고 빠른 동작 제어를 제공합니다. 이렇게 하면 복잡한 테스트 시퀀스를 쉽게 프로그래밍할 수 있으므로 설정에 필요한 시간과 노력을 줄일 수 있습니다. TERADYNE 517-457-00/A는 사용 편의성과 유지 관리를 위해 설계되었습니다. 모델은 자체 내장되어 있습니다. 즉, 모든 필수 구성 요소가 테스트 장비에 포함되어 있습니다. 또한 시스템 (SystemWorks) 소프트웨어와 같은 그래픽 사용자 인터페이스 (예: 빠른 설치 및 데이터 수집) 가 포함되어 있습니다. 시스템의 높은 충실도를 유지하기 위해 TERADYNE 517-457-00/A에는 전용 실시간 벡터 모니터링 및 분석 도구가 포함됩니다. 이러한 툴은 테스트 결과에 대한 신속한 피드백을 제공하기 위해 고안되었으며, 사용자가 필요할 때 신속하게 결과를 평가하고, 시정 (corrective) 조치를 취할 수 있습니다. 이 장치에는 전체 테스트 시스템에 대한 테스트 후 (post-test) 분석을 제공하는 임베디드 (embedded) 진단 기능이 포함되어 있습니다. 이를 통해 사용자는 결과의 오류 또는 불일치를 신속하게 감지하고 이를 수정하기 위해 적절한 조치를 취할 수 있습니다 (영문). 마지막으로 TERADYNE 517-457-00/A 도구는 유연하고 확장 가능하도록 설계되었습니다. 이를 통해 소규모 및 대규모 테스트 프로젝트에 모두 사용할 수 있습니다. 이 제품은 강력한 기능과 빠른 처리 시간 (turnaround time) 으로 모든 테스트 엔지니어링 프로젝트에 이상적인 솔루션입니다.
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