판매용 중고 TERADYNE 239-700-04 #9188594

TERADYNE 239-700-04는 고속 모듈 생산 테스트를 위해 설계된 최첨단 최종 테스트 장비입니다. 대용량, 높은 신뢰성, 미션 크리티컬 환경에 사용하도록 설계되었습니다. 이 시스템은 초당 최대 50 메가비트 (Mbps) 의 속도로 32 비트 테스트를 수행할 수 있으며, 다양한 테스트 요구를 충족하는 유연한 테스트 제품군 및 구성 가능한 하드웨어 설계를 포함합니다. 239-700-04 는 여러 메모리 모듈을 동시에 테스트하고, 고속 신호 무결성을 확인할 수 있습니다. 최신 메모리 (memory) 및 스토리지 인터페이스 (storage interface) 표준과 완벽하게 호환되며 모든 운영 환경에 손쉽게 적용 및 구성할 수 있습니다. 이 장치는 안정적이고, 정확하며, 철저한 테스트 실행 기능을 제공하는 견고한 테스트 엔진으로 구동됩니다. TERADYNE 239-700-04에는 내장 DFT (Design For Testability) 지원도 포함되어 있습니다. 이를 통해 고객은 추가 테스트 장비 (Test Equipment) 나 기술자가 필요 없이 기계를 기존 테스트 계획에 쉽게 통합할 수 있습니다. 또한 강력한 진단/분석 툴 (Diagnostic/Analysis Tools) 을 통해 모든 신호 무결성 문제를 신속하게 진단하고 해결할 수 있습니다. 이 자산은 선형 (linear) 테스트와 인터리브 (interleaved) 테스트를 모두 지원하므로 테스트 시간을 가장 효율적으로 사용하기 위해 테스트 주기를 최적화할 수 있습니다. 또한, 이 모델은 여러 가지 테스트 플랫폼 (Test Platform) 옵션을 제공하여 고객이 특정 테스트 요구에 가장 적합한 플랫폼을 선택할 수 있습니다. 이 장비는 PLL, LSSD, 타이밍 칩, I/O 버퍼 및 아날로그 기능 블록과 같은 추가 테스트 구성 요소를 통합하는 옵션도 제공합니다. 표준 속도와 최고 속도 모두에서 테스트를 지원하도록 239 ~ 700 ~ 04 를 구성할 수 있으며, 최대 수준의 테스트 적용 범위와 신뢰성을 보장합니다. 또한, 유연한 설계를 통해 고객은 다양한 유형의 메모리 모듈에 대한 테스트를 개발할 수 있으며, 통합 진단/분석 툴은 잠재적인 신호 무결성 (signal integrity) 문제를 신속하게 해결할 수 있는 지원을 제공합니다. 마지막으로, 이 시스템은 기존 운영 라인에 손쉽게 통합될 수 있어, 비즈니스의 시간과 비용을 절감할 수 있습니다.