판매용 중고 TERADYNE 239-052-01 #9166598

TERADYNE 239-052-01
ID: 9166598
CAL DIB Board for TERADYNE J750.
TERADYNE 239-052-01 최종 테스트 장비는 안정적이고 효율적인 집적 회로 테스트 솔루션입니다. 이 시스템은 전력 반도체 (Power Semiconductor) 의 결함 및 품질 문제, 그리고 다른 부품으로 구성된 회로 (Circuit) 를 감지하고 식별하는 데 사용될 수 있습니다. 고속, 효율적인 성능을 위해 설계되었으며, 여러 개의 핀으로 장치를 구성하여 여러 장치를 동시에 테스트할 수 있습니다 (영문). 이 기계는 다양한 보드 및 구성의 테스트를 처리하고 포괄적이고 안정적인 결과를 제공하는 모든 기능을 갖춘 PC 및 소프트웨어 플랫폼을 갖추고 있습니다 (영문). 고객 인터페이스 컨트롤러는 최대 12 개의 I/O 포인트 (가장 큰 종류) 로 구성하여 빠르고 안정적인 테스트를 수행할 수 있습니다. 이 컨트롤러에는 여러 테스트 사이클, 8 핀 프로빙 및 28 개의 프로그래밍 가능한 전원 공급 장치를 포함한 인상적인 기능도 포함되어 있습니다. 이 도구에는 모델 성능을 안전하게 모니터링하는 디지털 이미지 캡처 자산도 포함되어 있습니다. Test Optimizer는 239-052-01 장비의 핵심이며, 테스트 시스템 구성을 관리하고 최적화하는 데 사용됩니다. 이 소프트웨어는 다양한 테스트 옵션을 제공하도록 설계되었으며, 멀티 사이트, 멀티 레벨 테스트를 수행하기 위해 프로그래밍될 수 있습니다. 여기에는 테스트 일정을 동적으로 최적화하여 효율성을 극대화하는 통합 테스트 흐름 최적화 (test flow optimization) 기능이 포함되어 있습니다. 이 장치는 또한 정확하고 포괄적 인 결과를 제공하기 위해 고급 테스트 프로그래밍을 사용합니다. 온보드 프로세서는 최고 속도로 실시간 (real-time) 테스트를 실행하여 복잡한 회로에서도 정확한 결과를 보장합니다. 이 기계는 테스트 시간을 줄이고 오류를 최소화하는 지능형 테스트 알고리즘 (Intelligent Test Algorithm) 을 갖추고 있습니다. 또한 이 툴에는 장애 분류 (fault classification) 기능이 있어 복구 및 재시험 프로세스를 수행할 수 있습니다. TERADYNE 239-052-01 Final Test Asset은 복잡하고 상세한 회로 테스트를 위한 뛰어난 효율성과 안정적인 솔루션입니다. 광범위한 '운영/테스트' 환경에 적합한 포괄적인 기능을 갖추고 있습니다. 이 모델은 여러 개의 핀과 고속 (고속) 성능을 통해 신속하고 효율적으로 포괄적이고 정확한 결과를 얻을 수 있습니다.
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