판매용 중고 SPEA C372MX #293589284

SPEA C372MX는 다양한 유형의 전자 모듈에 대해 정확하고 안정적인 테스트 결과를 제공하기 위해 설계된 매우 향상된 최종 테스트 장비 (Final Test Equipment) 입니다. 다양한 산업 및 실험실 사용에 적합한 전형적인 3 세대 TDR (High Speed Time Domain Reflectometry) 기반 시스템입니다. 정교한 온보드 신호 프로세서 (on-board signal processor) 와 소프트웨어와 고유한 테스트 알고리즘을 결합하여 정확하고 반복 가능한 결과를 제공합니다. SPEA C372-MX 장치는 사용자에게 친숙한 작동을 제공합니다. 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 사용하면 다양한 테스트 매개변수를 설정하고 테스트 포인트를 빠르고 정확하게 정의할 수 있습니다. 신호 프로세서 (signal processor) 는 저전압 접지 (low voltage ground) 에서 고전압 (high voltage) 까지 모든 범위의 입력 신호를 사용하여 작업할 수 있으며, 신호로 테스트되는 장치 또는 컴포넌트의 특성을 측정합니다. C372MX 기계는 구성 요소 특성을 결정하는 다양한 매개 변수를 제공합니다. 이러한 매개 변수에는 삽입 손실 (IL), 반환 손실 (RL) 및 유전체 상수 (K) 가 포함됩니다. 광범위한 측정 기능을 통해, 이 도구는 커넥터, 케이블, 필름 커패시터, 저항기, 다양한 유형의 IC 와 같은 구성 요소를 정확하게 테스트할 수 있습니다. 자산은 또한 이전에 테스트된 모든 컴포넌트 (component) 에 대한 테스트 포인트 측정 (test point measurement) 을 저장하고 측정 매개변수 (measured parameters) 결과를 보고하는 기능을 가지고 있습니다. 또한, C372-MX 모델은 테스트 결과를 분석하는 종합적인 도구 집합을 제공합니다. 여기에는 특성 커브, 임피던스/주파수 플롯 (impedance/frequency plot) 등 컴포넌트의 성능을 평가하기 위한 수동 및 자동 측정이 모두 포함됩니다. 이는 디바이스의 가속 및 안정성을 확인하는 데 특히 유용합니다. 마지막으로, 장비에는 결과 정보를 저장하고 테스트하는 데이터베이스 (database to store and test result information) 가 포함되어 있어 모든 문제나 문제를 쉽게 비교하고 식별할 수 있습니다. 결론적으로 SPEA C372MX 시스템은 안정적이고 효율성이 뛰어난 Final Test Unit입니다. 고급 (Advanced) 처리 기능과 포괄적인 테스트 알고리즘을 통해, 시스템은 품질과 안정적인 결과를 보장합니다. 사용자 친화적인 인터페이스를 통해 SPEA C372-MX 는 간단하지만 포괄적인 방법으로 다양한 구성요소를 테스트하고 결과를 빠르고 정확하게 분석합니다.