판매용 중고 SHIBASOKU S230 #9181098

SHIBASOKU S230 최종 테스트 장비 (Final Test Equipment) 는 웨이퍼 테스트에서 장치 검증 (burn-in) 및 기능 테스트 (functional test) 에 이르기까지 반도체 장치의 종합적인 테스트를 위해 설계된 종합 시스템입니다. 테스트 머신 (Test Machine) 은 고성능 반도체 디바이스에 대한 높은 정확도와 높은 처리량 테스트를 위한 광범위한 매개변수를 지원합니다. S230 도구는 메모리 장치, 혼합 신호 설계, 고속 버스 인터페이스 등, 다양한 장치 유형의 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 전송 라인 시뮬레이션, 프로토콜 모니터링 및 디버깅, 온칩 버스 측정에 대한 하이엔드 프로토콜 테스트를 지원합니다 (영문). "에셋 '을 사용 함 으로써," 티임' 은 가장 기본적 인 기능 "테스트 '로부터 최첨단 시험" 알고리즘' 에 이르기 까지 여러 가지 시험 을 수행 할 수 있다. 시바소쿠 (SHIBASOKU) S230 모델은 강력한 최첨단 테스트 개발 툴과 알고리즘을 활용하여 빠른 테스트 개발을 수행하는 강력한 플랫폼을 기반으로 합니다. 테스트 장비에는 고정밀도, 완전 자동화 프로세스 제어 시스템 (high-precision, fully automated process control system) 이 있어 웨이퍼 수준, 보드 수준 및 장치 수준에서 테스트 절차를 완벽하게 제어할 수 있습니다. 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 는 테스트 설정 프로세스를 단순화합니다. 기계의 스마트 툴 레벨 버스 스케줄링 기법 (Smart Tool-Level Bus Scheduling Technique) 과 고급 병렬 테스트 기법은 장치 처리량을 극대화하고 테스트 중단을 최소화합니다. 또한, S230 자산은 광범위한 내장 테스트 라이브러리 및 스크립트 기능을 제공하여 복잡한 테스트를 실현합니다. 장치 성능 및 신호 무결성 (signal integrity) 을 정확하게 측정하기 위한 고급 노이즈 취소 알고리즘이 장착되어 있습니다. SHIBASOKU S230 Final Test Model은 고급 반도체 장치를 위한 효율적이고 안정적인 테스트 솔루션을 제공합니다. 수동/자동 테스트를 모두 지원하여 디바이스의 기능 검증, 장애 적용 범위, 장비 에뮬레이션을 지원합니다. 또한 기록 로깅, 패턴 분석, 추적 기능 등의 여러 디버깅 옵션도 제공합니다. 또한, S230 테스트 장치에는 월클럭 테스트, 다중 액세스 모니터링, 프로그래밍 가능한 자극 생성기와 같은 포괄적인 하드웨어 테스트 환경이 장착되어 있습니다. 이 기계는 또한 빠른 디버그 (fast debug) 및 장치 특성 테스트를 지원하므로 종합적인 테스트 프로그램을 빠르게 개발할 수 있습니다. 결론적으로 SHIBASOKU S230 Final Test Tool은 고성능, 확장성 및 신뢰성을 제공하는 포괄적인 자산입니다. 이 모델은 다양한 장치 유형에 대해 다양한 테스트를 수행하는 데 사용될 수 있으며, 고급 알고리즘 (advanced algorithm) 과 디버그 (debug) 및 디바이스 특성 (device characterization) 도구를 갖추고 있습니다. 내장 테스트 라이브러리 및 스크립트 기능은 테스트 개발 및 실행 프로세스를 단순화합니다. 이 장비는 반도체 장치의 완벽한 테스트를 위해 안정적이고 포괄적인 솔루션을 제공할 수 있습니다 (영문).