판매용 중고 NIKON N-SISVR #9157716

NIKON N-SISVR은 Ic 소켓 또는 다이 테스트를 위해 설계된 고성능 최종 테스트 장비입니다. 가장 까다로운 성능 요구 사항을 충족하는 최신 자동 전기 테스트 (Automated Electrical Test) 기술을 갖추고 있습니다. 이 시스템은 성능이 다른 두 가지 모델로 제공됩니다. NIKON N SISVR-M은 최대 500 개의 샘플에 대한 고속 테스트를 제공하는 중급 버전이며, N SIS VR-H는 최대 1000 개의 샘플에 대한 고속 테스트를 제공하는 하이엔드 버전입니다. N SISVR 은 고급 하드웨어와 소프트웨어의 강력한 조합으로, 높은 정확성과 속도를 보장합니다. 이 장치는 '완벽한 솔루션' 을 제공하기 위해 통합된 다양한 구성요소를 기반으로 합니다. 하드웨어에는 컨트롤러, 테스트 헤드, 테스트 헤드 케이블, 클램프, 테스트 셀, 전원 공급 장치 및 테스트 헤드 컨트롤 패널이 포함됩니다. 컨트롤러는 1024MB RAM, 8 채널 고속 이더넷 연결 및 최대 16 개의 차등 ADC (Analog-to-Digital Converter) 및 DAC (Digital-to-Analog Converter) 를 갖춘 DSP 구동 장치입니다. 이것은 최대 32 개의 테스트 채널을 처리 할 수있는 고속, 정확한 테스트 머신을 제공합니다. N-SISVR은 또한 전기, 기계, 온도 테스트 등 다양한 테스트 옵션을 제공합니다. 모든 테스트는 내장 교정 도구를 사용하여 수행됩니다. 교정 자산은 고정밀 레이저 간섭계를 사용하여 각 테스트의 정확성과 반복성을 보장합니다. 테스트 헤드 케이블 (test head cable) 과 클램프 (clamps) 는 테스트 샘플과 테스트 헤드 사이의 최적 연결을 보장하도록 설계되었습니다. 테스트 헤드 제어판 (Test Head Control Panel) 에는 테스트 상태를 제어하고 모니터링하기 위한 전용 디지털 입력 및 출력이 있습니다. NIKON N-SISV-R은 열 사이클링, 자동 리트랙트, T-zero 감지 등의 기능으로 다운타임을 최소화할 수 있도록 설계되었습니다. 자동 리트랙트는 자동으로 리트랙트하여 사용 중이 아닌 경우 테스트 소켓의 핀을 분리합니다. 이렇게 하면 효율성이 향상되고, 테스트 소켓의 과도한 사용을 방지할 수 있습니다. 열 순환 기능은 다양한 온도 범위의 구성 요소를 테스트하는 열 순환 기능을 제공합니다. 이는 구성 요소의 수명을 연장하는 데 도움이 되며, 구성 요소의 수명은 다양한 온도 환경에서 테스트할 수 있습니다. 마지막으로, T-zero 검출은 테스트가 시작되고 중지되면 정확하게 감지하여 테스트 정확도가 향상됩니다. N-SISV-R은 신뢰성이 높고 빠른 테스트 모델로, 정확성과 반복성을 제공합니다. 이 장비는 최신 기술과 고급 (advanced) 기능으로 설계되어 다양한 어플리케이션의 안정적인 성능을 보장합니다. 전용 디지털 및 아날로그 입력으로 전기, 기계, 온도 테스트 등 다양한 테스트 옵션을 제공합니다. 내장된 교정 시스템 (calibration system) 과 열 사이클링 (thermal cycling) 을 통해 테스트가 시작되고 멈출 때 정확하게 감지할 수 있으므로 정확도가 높아지고 효율성이 향상됩니다. 마지막으로, 자동 리트랙트 및 T-0 검출로 인해 장치가 손상되기 쉽고 안정성이 향상됩니다.