판매용 중고 NEXTEST / TERADYNE Maverick II ST #9279293

NEXTEST / TERADYNE Maverick II ST
ID: 9279293
Tester Clock speed: 66 / 133 MHz IO Pins: 48 Pin electronics: 3 Algorithmic pattern generator Data buffer memory: 36 M Vector memory: 4 M Error catch memory: 36 M Scan memory: 2 M.
NEXTEST/TERADYNE Maverick II ST는 제품 수명 주기 동안 비용을 절감하고 효율성을 극대화하기 위해 설계된 고성능 최종 테스트 장비입니다. 이 테스트 시스템은 모든 테스트 솔루션으로 업그레이드/구성이 가능하므로 운영 볼륨 (운영 볼륨) 이 낮고, 볼륨 (볼륨) 이 중간인 프로덕션 테스트 요구 사항에 적합합니다. RF 및 혼합 신호 기능, 디지털 I/O, 경계 스캔, 3D X-ray, 다중 센서, 모듈 테스트 및 추적 능력을 포함한 광범위한 기능 테스트 솔루션을 제공합니다. NEXTEST Maverick II ST는 최적의 구성성과 유연성을 위한 모듈식 설계를 제공합니다. 이 장치는 여러 개의 테스트 응용프로그램을 처리하고, 각자의 다양한 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다. 이 플랫폼에는 고속 DUT (테스트 대상 장치) ~ UUT (테스트 대상 장치) 인터페이스가 장착되어 있으므로 여러 테스트 시나리오를 효율적으로 수행할 수 있습니다. 또한 병렬 (parallel) 모드와 직렬 (serial) 모드 모두에서 작동하여 높은 처리율을 제공합니다. 이 기계에는 통합 바코드 리더기, 터치스크린 LCD 사용자 인터페이스, 시각적 표시등 다양한 자동화 및 진단 기능이 포함되어 있습니다. 이렇게 하면 빠르고, 정확하고, 일관성 있는 테스트 프로세스가 마련될 수 있고, 운영자가 테스트 프로세스를 손쉽게 모니터링, 제어할 수 있습니다. 또한 TERADYNE MAVERICK II-ST는 테스트 시퀀스 생성, 디버그 및 분석을위한 고급 소프트웨어를 제공합니다. 이 도구에는 진단 탐지기 (diagnostic detector), 동적 매개변수 조정 (dynamic parameter adjustment) 등 테스트 최적화가 이루어지도록 여러 가지 고급 피쳐가 있습니다. 이러한 기능을 통해 테스트 프로세스의 빠르고 간편한 개선, 스크랩 속도 (scrap rate) 를 줄일 수 있습니다. 또한, TERADYNE Maverick II ST에는 고급 전원 공급 장치 및 보호 시스템이 포함되어 있으므로 테스트 과정에서 중요한 테스트 조건이 충족됩니다. 마지막으로, 테스트 자산은 안정적이고 유지 보수가 쉽습니다. 모듈식 (Modular) 설계를 통해 수리와 업그레이드를 신속하게 수행할 수 있으며, 테스트는 중단되지 않습니다. 최종 테스트 솔루션인 NEXTEST MAVERICK II-ST 는 모든 요구 사항에 대해 정확하고 안정적인 테스트 솔루션을 제공할 수 있습니다.
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