판매용 중고 NEXTEST / TERADYNE Maverick GT #293595976

NEXTEST/TERADYNE 매버릭 GT (Maverick GT) 는 전자 제조에서 제품의 유효성 및 신뢰성에 대한 엄격한 테스트 요구 사항을 충족하는 자동 칩 레벨 제품 테스트 솔루션입니다. NEXTEST Maverick GT (Maverick GT) 는 사용이 간편하고 자동화된 테스트 플랫폼을 제공하여 최고 수준의 정확도로 솔루션을 테스트합니다. 이 장비에는 업계 최고의 통합 처리량 (HT) 실리콘 테스트 장비 패키지가 포함되어 있으며, 사이트당 비용이 경쟁사 솔루션보다 저렴합니다. 차세대 시스템은 NEXTEST TERADYNE Compact Pro (NCP) 프로그래밍 환경에 의해 구동되어 개발 및 테스트 시간을 최대 25% 줄입니다. ADT (Advanced Deterministic Test) 를 포함한 광범위한 고급 테스트 및 분석 기능이 특징입니다. 테라 딘 매버릭 GT (TERADYNE Maverick GT) 는 또한 모듈식 디자인의 풍부한 기능의 고성능 사용자 인터페이스를 제공하여, 고객이 원하는 대로 제품을 사용자 정의할 수 있도록 합니다. 통합 패턴 데이터베이스 관리자 (Integrated Pattern Database Manager) 에는 내장 패턴 라이브러리가 포함되어 있어 복잡한 테스트를 신속하게 설계하고 실행할 수 있습니다. 이렇게 하면 Maverick GT가 테스트 데이터를 디버그할 수 있으므로 테스트 결과의 정확도가 향상됩니다. 이 장치에는 고속 온보드 기능 테스트, 고속 기능성 데이지 체인 테스트, 통합 장애 분석을위한 고급 알고리즘도 포함되어 있습니다. 정확한 테스트, 제품의 무결성 및 신뢰성을 보장하도록 각 DUT (device in test) 에 별도의 전원을 공급하도록 사용자 정의할 수 있습니다. NEXTEST/TERADYNE Maverick GT는 백사이드 분석, 항복 분석, 테스트 레시피 최적화를 위한 프로세스 상관 관계 등의 디바이스 운영 테스트를 위한 포괄적인 테스트 범위를 제공합니다. 또한 고품질 장치 생산을 위한 광범위한 메모리 복구 기능도 지원합니다. 또한, 이 기계는 고급 3D X-ray 검사를 제공하여 사용자가 시간 소모적인 수동 프로그래밍 없이 직관적인 설정을 제공합니다. 결론적으로 NEXTEST Maverick GT 는 최종 제품 테스트에 가장 까다로운 테스트 요건을 충족하도록 설계된 포괄적인 테스트 솔루션입니다. 고급 테스트 기능, 통합 패턴 데이터베이스, 고급 알고리즘, 온보드 기능 테스트, 고속 데이지 체인 테스트 등의 다양한 기능을 제공합니다. 또한 장치 생산 테스트, 메모리 수리 및 3D X-ray 검사에 대한 포괄적 인 적용 범위를 제공합니다. 이러한 기능을 함께 사용하면 TERADYNE Maverick GT가 디바이스 생산 테스트 및 분석을 위한 강력하고, 사용하기 쉽고, 효율적인 솔루션이 됩니다.