판매용 중고 NEXTEST / TERADYNE Magnum V GV VP #293609750
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ID: 293609750
빈티지: 2017
Tester
eMMC
Toggle NAND
Legacy NAND
ONFI Flash
MCP
eMCP
LPDDR2
LPDDR3
2017 vintage.
NEXTEST/TERADYNE Magnum V GV VP는 다양한 장치 유형의 생산 테스트를 위해 설계된 고성능 Final Test 장비입니다. 이 시스템을 사용하면 여러 디바이스 또는 구성요소 유형을 높은 속도와 정확도로 테스트할 수 있습니다. 최대 2GHz 의 장치를 테스트할 수 있으며, 시간당 최대 3M 개의 장치를 테스트할 수 있습니다. 이 장치에는 VXI 컨트롤러, 카트리지 로딩 기계, 프로그래밍 가능 로드 보드 및 테스터 헤드 (구성 관리자) 가 포함됩니다. VXI 컨트롤러는 NEXTEST 프로그래밍 가능 로드 보드와 통합되는 내장 PC 기반 도구입니다. 이 컨트롤러를 사용하면 성공적인 장치 테스트에 필요한 다양한 매개변수를 제어할 수 있는 맞춤형 테스트 프로그램 (custom test program) 을 개발할 수 있습니다. 또한, 프로그래밍, 작업 및 데이터 분석을 위한 그래픽 사용자 인터페이스를 제공합니다. 카트리지 로드 자산 (Cartridge Loading Asset) 은 다양한 장치 유형을 수용하며 테스트 챔버 간에 빠르고 쉽게 카트리지를 교환할 수 있습니다. 이 모델에는 테스트 헤드 및 컨트롤러, 프로그래밍 가능한 테스트 설비, 로더 암 (loader arm) 및 다양한 프로브 팁 크기가 포함됩니다. 이 장비는 업계 표준 처리기 (standard handler) 와 호환되도록 설계되었으며, 광범위한 측정 정확성과 유연성을 제공합니다. 프로그래밍 가능한 로드 보드 (Programmable Load Board) 는 가장 어려운 환경에서 신뢰할 수 있는 고속 디지털 및 아날로그 테스트를 제공하도록 설계되었습니다. 이 시스템은 메모리 (memory), 아날로그 (analog), 디지털 (digital), 혼합 신호 (mixed signal) IC를 포함한 다양한 장치의 요구 사항을 충족하도록 설계된 높은 수준의 디지털 테스트 리소스와 광범위한 아날로그 테스트 기능을 제공합니다. 마지막으로 Tester Head (Configuration Manager) 는 지능형 고속 로드, 언로드 및 장치 유형 바이닝을 제공합니다. 이 장치에는 고속 정전식 프로브, 이동식 프로브, 광범위한 전압 및 전류 모니터링 기능이 포함됩니다. 전반적으로 NEXTEST Magnum V GV VP는 고성능 최종 테스트 시스템입니다. 이 툴은 다양한 디바이스 유형을 테스트, 분석할 수 있는 유연성 (Flexibility) 을 제공하며, 성공적인 디바이스 테스트를 위한 다양한 툴을 제공합니다. 이 자산은 IC 및 기타 장치 유형에 대한 신뢰성, 고속 테스트가 필요한 제조업체에 적합한 선택입니다.
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