판매용 중고 MOSAID MS 4205EX #9151174

MOSAID MS 4205EX
ID: 9151174
Memory tester.
MOSAID MS 4205EX는 높은 신뢰성, 고성능 반도체 구성 요소를 최종 테스트하기 위해 설계된 고성능, 자동 반도체 테스트 장비입니다. 대용량 운영 어셈블리 회선 테스트를 가능하게 하여 견고하게 확장할 수 있습니다. 이 시스템은 처리량이 향상된 단일 (single) 또는 다중 (multi) 칩 모듈을 테스트하기 위한 고속 데이터 획득 및 분석 기능을 갖추고 있어, 시스템 엔지니어가 조립된 장치의 성능을 신속하게 분석할 수 있습니다. MOSAID MS4205EX에는 큰 비트, 넓은 온도 범위 및 핀/프로브 기능을 위해 사용 가능한 구성의 모듈식 측정 하드웨어가 포함되어 있습니다. 이러한 확장성으로 운영 간소화, 테스트 시간 간소화 MS 4205 EX에는 장치 확인 테스트를위한 고급 자동 테스트 프로그램도 포함되어 있습니다. 여기에는 스토리지 테스트, 통합 AST (Multi-Engine Accelerated Stress Testing) 및 여러 소프트웨어 모듈 수준의 테스트 환경을 위해 특별히 설계된 프로그램이 포함됩니다. 또한 블록 매핑 (Block Mapping), 유연한 제한 세트 (Flexible Limit Set), 내장 장애 분석 기능 등 향상된 테스트 반복성을 위한 향상된 도구 관리 기능을 제공합니다. MS4205EX는 통합 자산에 유연성, 고해상도 및 프로그래밍성을 제공합니다. 고급 프로그래밍 기능을 통해 장애 복구 (fail-safe) 작업, 고속 데이터 획득, 자세한 테스트 적용 범위 및 복잡한 시퀀스 분석이 가능합니다. 이 모델에는 고핀 카운트 복합 IC (High Pin-Count Complex IC) 에서 간단한 MOS 디지털 (MOS Digital One) 에 이르기까지 모든 유형의 컴포넌트를 테스트하기 위한 모듈과 프로브도 장착되어 있습니다. MOSAID MS 4205 EX는 고속, 고성능, 높은 신뢰성 반도체 구성 요소를 테스트하기 위한 가장 첨단 기술을 제공합니다. 모듈식 (modular) 구성을 통해 대용량 생산 테스트에 사용할 수 있으며, 고급 자동 테스트 프로그램 (Automatic Test Program) 과 장비 관리 (Equipment Management) 기능은 생산 환경과 실험실 환경에서 정확하고 신뢰할 수있는 결과를 제공합니다. 따라서, 이 시스템은 복잡한 반도체 구성요소를 빠르고, 안정적으로 테스트해야 하는 기업에게 탁월한 선택입니다.
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