판매용 중고 LTX-CREDENCE STS 6060 #9012502

LTX-CREDENCE STS 6060은 종합적인 최종 테스트 장비입니다. 탁월한 정확도로 우수한 테스트 범위를 제공하도록 설계되었습니다. 이 시스템은 고급 디지털/아날로그 디버깅, BIST, ATE 에뮬레이션, 결함 진단, 경계 스캔 테스트 등 다양한 기능을 제공합니다. 이 장치는 다양한 디지털 및 아날로그 기술을 지원합니다. STS 6060 은 확장 가능한 머신으로, 다양한 제조 기업 (manufacturing company) 의 요구에 맞게 쉽게 구성할 수 있습니다. 모듈당 최대 6개의 슬롯, 최대 15개의 DUT를 지원하며, 공구당 최대 90개의 DUT를 지원합니다. 이 자산은 최대 10GB의 프로그램 메모리를위한 확장 가능한 저장소도 갖추고 있습니다. 이 모델은 빠르고 안정적인 테스트 솔루션을 제공하는 LTX-CREDENCE TestKompress 기술로 구동됩니다. 이 기술은 통합 DUT 프로그래밍 및 테스트, 다양한 기술에 대한 빠른 프로그래밍 (병렬 운영, 테스트 일정 관리, 트리거 및 패턴 즉석 조정) 을 제공하여 유연성을 극대화합니다. 또한 LTX-CREDENCE STS 6060 은 자동화된 테스트 애플리케이션과 통합할 수 있는 GUI 를 제공하여, 포괄적인 테스트를 빠르고 쉽게 생성하고 실행할 수 있습니다. 속도 측면에서 STS 6060의 임계 값은 80 나노 초이며 실시간 디버깅이 가능합니다. PCIe, USB, XTX, NZX 및 SPMI 버스 시스템에도 충분히 빠릅니다. 또한, 낮은 타이밍 지터 및 최소 오프셋 오류로 인해 맥박 해상도와 정확도가 뛰어납니다. 안정성을 위해 LTX-CREDENCE STS 6060은 내결함성 아키텍처로 설계되었습니다. 자동 복구 기능과 하드웨어/소프트웨어 오류를 감지할 수 있는 사용자 정의 이중화 (예비) 기능이 있습니다. 또한, 온도 스파이크와 온도 사이클링을 견딜 수 있도록 설계되었으며, -40 ° C ~ + 85 ° C의 온도에서 작동하도록 테스트되었습니다. STS 6060은 또한 ICF, UFS, CDE, 패턴 또는 벡터와 같은 많은 업계 표준 형식을 지원합니다. 이 장비는 사용이 간편하며, 직관적인 사용자 인터페이스, 관리하기 쉬운 테스트 데이지 체인, 추적 가능한 테스트 결과를 위한 강력한 데이터베이스 등을 갖추고 있습니다. 따라서 사용자는 테스트 자료를 최대한 활용할 수 있습니다. 전반적으로 LTX-CREDENCE STS 6060은 강력하고 신뢰할 수있는 최종 테스트 시스템으로, 뛰어난 테스트 적용 범위 및 정확성, 병렬 작업, 빠른 DUT 프로그래밍 및 테스트, 종합적인 테스트 일정을 갖춘 다양한 기술의 빠른 프로그래밍을 제공합니다. 고급 디지털/아날로그 디버깅, BIST, ATE 에뮬레이션, 장애 진단, 경계 스캔 기능을 갖춘 이 솔루션은 다양한 테스트 애플리케이션을 위한 완벽한 솔루션입니다.