판매용 중고 LTX-CREDENCE SC 212 #9113660

LTX-CREDENCE SC 212 Final Test 장비는 고급 장치 테스트 및 특성화용으로 엄격하게 설계된 고급 온웨퍼 (on-wafer) ATE 솔루션을 제공하는 종합 테스트 플랫폼입니다. 디스크 드라이브, 개인용 전자 제품, 모바일 가전 (mobile consumer electronics) 환경에서 모든 기능을 갖춘 반도체 테스트에 적합합니다. Wafer Probing, Device Parametric 및 Yield Testing, Device Burn-in 및 Failure Analysis 에 적합한 기능을 갖춘 SC 212는 안정적이고 경제적인 패키지에서 탁월한 성능을 제공합니다. LTX-CREDENCE SC 212 플랫폼은 고밀도 스위칭을 사용하여 정밀 측정, 유연한 타이밍, 최대 12 개의 채널을 동시에 제어할 수 있습니다. 시스템의 핵심은 최소화된 케이블 연결을 통해 비용 효율적인 확장성을 보장하기 위해 MTU (Modular Test Unit) 아키텍처를 중심으로 설계되었습니다. 측정 및 분석 회로는 MTU 모듈에 보관되어 있으며, 최소 설치 공간으로 이전 시스템의 4 배 밀도로 최대 12 개의 채널을 제어 할 수 있습니다. 각 모듈은 최대 24개의 웨이퍼를 지원합니다. 안정적인 장치 특성화 및 테스트를 위해 SC 212는 펄스 선형화 (Pulse Linearization) 및 사이클 별 데이터 검증 (Cycle-by-Cycle Data Verification) 기능을 제공하여 온도 변동, 수동 설정, 프로세스 변동 및 기타 조건으로 인해 정확한 응답 자극 비율을 보장하고 오류를 최소화합니다. 이 장치는 데이터 처리 시스템 (Data Handling Machine) 으로 설계되었으며, 각 프로세스 단계의 테스트 결과를 추적하여 데이터 세트를 반복 및 정리할 수 있습니다. 레코딩 및 장애 분석을 위해 LTX-CREDENCE SC 212는 RF, IT 및 광학 버스트 기술 테스트를 지원합니다. 특수 레코딩 (burn-in) 프로토콜을 통해 도구는 온도, 전원, 전압 및 기타 매개변수를 모니터링하고 필요에 따라 조정할 수 있습니다. 이를 통해 모든 디바이스에 과잉 스트레싱 (over-stressing) 을 적용하거나 디바이스를 손상시키지 않고 적절한 스트레스 수준을 부여할 수 있습니다. 또한 일반적인 장애를 자동으로 감지하고 진단하고 원격 중재 (Intervention) 또는 장치당 제어 (Per-Device Control) 기능을 제공하여 안정적인 테스트 결과를 얻을 수 있도록 자산을 구성할 수 있습니다. SC 212에는 데이터 수집 및 분석을위한 소프트웨어 및 하드웨어 도구도 포함되어 있습니다. 이 모델은 다양한 온보드 분석 엔진 (On-Board Analysis Engine), 데이터 마이닝을 위한 맞춤형 스크립트, 테스트 결과를 모니터링 및 진단하는 데 도움이 되는 자동화된 도구 세트를 제공합니다. 또한 초고속 데이터 획득 서버 (Ultra Fast Data Acquisition Server) 를 통해 몇 분 안에 최대 50 만 건의 테스트 결과를 처리할 수 있습니다. LTX-CREDENCE SC 212 를 통해 엔지니어는 테스트 결과를 신속하게 분석하고, 요점을 파악하며, 가장 효율적이고 경제적인 테스트 솔루션을 적시에 개발할 수 있습니다.