판매용 중고 LTX-CREDENCE Sapphire #9205876

LTX-CREDENCE 사파이어 (LTX-CREDENCE Sapphire) 는 반도체 생산 가속화의 요구를 충족시키기 위해 설계된 자동 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 고급 (Advanced), 적응형 (Adaptive) 테스트 방법 및 기술을 활용하여 기능 오류 및 파형 결함에 대한 최고 감지 민감도를 매우 빠른 속도로 제공합니다. 사파이어 (Sapphire) 장치는 모든 생산 흐름의 요구를 충족시키기 위해 확장 가능한 플랫폼으로 설계되었습니다. 높은 처리량 (High Throughput) 기능을 통해 제품 결함을 신속하게 파악하고, 최종 테스트 단계로 이동하기 전에 장치의 품질을 보장할 수 있습니다. 이 기계의 고속 테스터 코어에는 최첨단 Vector 프로세서, 고속 DSP (Digital Signal Processor) 및 메모리 가속기가 포함됩니다. 벡터 프로세서는 초당 최대 2 억 5 천 5 백만 개의 환경 포인트 (Eepps) 가 가능하며 초당 10 억 개 이상의 디지털 게이트를 테스트하는 것과 같습니다. 고속 DSP는 최대 400 기가 픽셀/초의 신호 파형을 정확하고 실시간 특성화합니다. 공구의 기본에서 고급 정밀 소프트웨어 (advanced precision software) 와 하드웨어 (hardware) 는 테스트 흐름, 디지털 신호 처리 및 파형 교정을 처리합니다. 소프트웨어 플랫폼을 사용하면 자체 테스트 벡터를 만들고 실행할 수 있으며 핵심 전원 모니터링 (power monitoring), 데이터 로깅 (data logging), 장애 분석 (failure analysis) 기능 등이 있습니다. 하드웨어 플랫폼에는 여러 하위 시스템이 포함되어 있어 닫힌 루프, 온보드 테스트 지원을 제공합니다. 또한 LTX-CREDENCE 사파이어 (LTX-CREDENCE Sapphire) 자산은 고급 통합 데이터 분석 알고리즘을 활용하여 포괄적인 결함을 감지하고 맞춤형 요구 사항을 조정할 수 있습니다. 통합 테스트 컨테이너 (Integrated Test Container) 를 통해 테스트 시간을 단축할 수 있으며, 확장된 채널 옵션을 통해 테스트 시 유연성이 향상되고 해상도가 높아집니다. 전반적으로, 사파이어 (Sapphire) 모델은 반도체 제조업체에 빠르고 정확한 테스트 및 수율 분석을 위한 효율적이고 안정적인 솔루션을 제공합니다. 이 제품은 기능적 (functional) 결함 및 파형적 결함 모두에 대해 고속, 정밀도, 정확성을 제공하여, 디바이스가 지정된 성능 요구 사항을 충족할 수 있도록 지원합니다. 결국, 이 모든 것은 생산 프로세스를 최적화하고, 테스트 비용을 절감하는 한편, 높은 품질과 신뢰성 있는 (신뢰성 있는) 제품을 제공합니다.