판매용 중고 LTX-CREDENCE Sapphire #104187

LTX-CREDENCE Sapphire는 IC의 포괄적이고 정확한 특성 (Integrated Circuits) 을 제공하도록 설계된 종합적인 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 다양한 유형의 전자 장치 (electronic device) 를 최대한 평가하고 테스트할 수 있는 다양한 기능을 갖추고 있습니다. 유연하고 비용 효율적인 솔루션으로, 단위의 수명 전반에 걸쳐 안정성과 정확성을 제공합니다 (영문). 이 기계는 고급, 논리 레벨, 디지털 레벨 테스트 방식을 활용하여 표준 및 와이드 메이킹 (wide-making) 제품 옵션의 특징을 갖습니다. 논리 레벨 (Logic Level) 에서는 모든 제품 매개변수에 대해 테스터가 제어하는 액세스를 제공하여 사용자가 제품 매개변수를 쉽게 정의하고 매개변수화할 수 있도록 하며 전체 공구/원리 테스트 (Tool/Principle Testing) 를 수행할 수 있습니다. 디지털 수준에서는 모든 크리티컬 성능 매개변수 (Critical Performance Parameter) 를 단일 주기로 측정할 수 있는 기능이 있으며, 이를 통해 자산 정확도를 높이고 처리량을 높일 수 있습니다. 이 모델은 또한 최대 4,500 개의 핀을 지원하는 높은 핀 수 장치 테스트를 제공합니다. 이를 통해 광범위한 IC 패키지에서 복잡한 측정, 제어 및 진단을 수행할 수 있습니다. 또한, 장비는 조정 가능한 오류 마진 수준과 별도로 프로그래밍 가능한 이득 및 오프셋 (offset) 통찰력을 가지고 있으며, 다양한 트랜시버 유형에 걸쳐 정확하고 반복 가능한 테스트를 제공합니다. 또한 Sapphire는 고급 그래픽 인터페이스를 통해 시스템 운영에 대한 세밀한 분석을 제공합니다. 테스트 계획을 개발하고 검증하는 통합 수단을 제공하는 IDFT (Inter-Testable Design for Testability) 접근 방식을 활용합니다. 여기에는 디버깅 (debugging) 툴 세트, 세부 테스트 데이터 캡처, 발생할 수 있는 여러 유형의 설계 오류에 대한 기본 제공 (내장) 등이 포함됩니다. 또한 EDA (Major Electronic Design Automation) 툴을 지원하므로 기존 개발 워크플로우에 쉽게 설치 및 통합할 수 있습니다. LTX-CREDENCE 사파이어 (LTX-CREDENCE Sapphire) 는 또한 시간 제어 전압 및 전류 소싱을 짧은 기간으로 제공하며, 혼합 신호 설계 설계에서 혼합 신호 시뮬레이션 및 확인 기능을 제공합니다. 이는 전략적 테스트를위한 고급 전원 공급 및 제어 메커니즘과 결합하여 제어 기능 (예: 실제 시나리오를 시뮬레이션하는 펄스 온/오프 사이클) 을 제공합니다. 마지막으로, 이 시스템에는 다양한 장치 검증 도구와 진단 (diagnostics) 기능이 포함되어 있어 장치 인프라 구성 요소에 대한 액세스를 제공합니다. 이에 비해 사파이어 (Sapphire) 는 집적회로· 전자장치의 최종 테스트· 특성화에 강력하고 유연한 솔루션이다. 다양한 기능을 제공하므로 테스트 요구사항에 따라 쉽게 공구를 사용자 정의할 수 있고, 테스트 효율성 (Test Efficiency) 과 정확도를 높일 수 있습니다. 또한 다양한 툴과 통합 디버깅 (debugging) 기능을 통해 엔지니어가 제품 설계를 신속하고 정확하게 디버깅, 검증하여 모델의 생산성과 수명을 극대화할 수 있습니다 (영문).