판매용 중고 LTX-CREDENCE Quartet #9044462
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ID: 9044462
Tester
Test data rate: 200 MHz
Test head: 512
Pins: 384
DPS: 10
Controller: Aries hypersparc
Sun Sparc OS: 4.1.4 Y2K2
Toolbox version: T 3.1, T3.3
Hard disk: 9 GB
Memory: 128 MB
Analog HF: Yes
Time digitizer: Yes
Analog pin group: Pin module (head)
Slot 1: HF AWG1A
Slot 2: SG AWG2A
Slot 3: None
Slot 4: SF ACP1
Slot 5: HF DCP1
Slot 6: HF DCP1 01
Slot 7: TD2
Slot 8: None
PPM Depth (memory): 16M
PPM Scan Support: Slot
SM1: 1,2,3,4,5,6,7,8
SM2: 1,2,3,4,5,6,7,8
SM3: 1,2,3,4,5,6,7,8
SM4: 1,2,3,4,5,6,7,8
SM5: 1,2,3,4,5,6,7,8
SM6: 1,2,3,4,5,6,7,8
Scan Memory: SM 1, 2, 3, 4, 5, 6
DPS Rack 1
1171A: 2
1172A: 1
1173A: 2
1174A: 0
1181: 0
Total: 5
1171A: 1
1172A: 2
1173A: 0
1174A: 2
1181: 0
Total: 5
Currently installed in cleanroom.
LTX-CREDENCE Quartet은 멀티 칩 모듈, 보드 및 시스템에 대한 포괄적인 "최종 테스트" 솔루션을 제공하기 위해 설계된 종합적인 테스트 장비입니다. 새로운 설계 (New Design) 와 기존 설계에 대한 전체 시스템 검증을 위해 작동의 속도와 정확성을 결합하기 위해 개발되었습니다. 이 장치는 테스트 시간, 확장성, 유연성을 대폭 낮추기 위해 병렬 (parallel) 기술을 사용합니다. 쿼트 머신 (Quartet Machine) 은 다양한 디지털 및 아날로그 기술의 적용을 활용하여 모델 설계의 성능과 기능을 확인할 수 있습니다. 예를 들어, 디지털 테스트 벡터 응용 프로그램뿐만 아니라 TDR (Time Domain Reflectiver Measurements) 도 지원됩니다. 이러한 테스트에 필요한 모든 연결은 LTX-CREDENCE Quartet의 내장 연결로 용이해질 수 있습니다. 또한, 모델의 정확한 사양을 충족시키기 위해 필요에 따라 이러한 연결 (connection) 을 사용자정의할 수 있습니다. 기능 측면에서, Quartet에는 데이터 분석을 위한 고속 프로세서 모듈과 장기 결과를 저장하기 위한 온보드 (on-board) 메모리가 포함되어 있습니다. 또한 외부 장치 (예: 레이저 제어 시스템, 심지어 시력 검사기) 를 제어하는 인터페이스도 제공합니다. 이 툴은 데이터 획득 및 분석에 사용하도록 프로그래밍 될 수도 있습니다. 또한, 복잡한 입/출력 기능을 통해 신호 무결성 (signal integrity) 및 전기 성능 검사 (electrical performance) 와 관련된 응용 프로그램에서 사용할 수 있습니다. LTX-CREDENCE Quartet은 다양한 관계형 테스트 기능도 제공합니다. 예를 들어, 신호 일시적 특성 (signal transitent characteric) 을 측정하고 다른 장치의 호환성을 확인하는 데 사용할 수 있습니다. 또한, 회로의 전원을 켜고, 끄고, 상관 관계를 감지할 수 있습니다. 또한, 추적 자동화 및 열 분석과 같은 고급 기능을 사용할 수 있습니다. 마지막으로, 논리수준의 기능적 검증 (Functional Validation), 로드 시뮬레이션 (Load Simulation) 과 같은 고급 테스트 절차를 수용하도록 자산을 사용자 정의할 수 있습니다. 결론적으로, Quartet 은 다양한 테스트 요구 사항을 충족하도록 설계된 포괄적인 고성능 테스트 모델입니다. 첨단 디지털/아날로그 기술을 활용하여 개발 속도, 유연성, 정확성 향상, 최종 테스트, 신규/기존 설계 평가 등을 제공합니다. 또한 광범위한 관계형 테스트 (relational testing) 기능을 통해 회로의 전원을 켜고 내릴 수 있으며, 신호 특성을 측정하고 상관 관계를 감지할 수 있습니다. 마지막으로, 맞춤형 솔루션은 멀티 칩 모듈, 보드 및 시스템을 위한 포괄적인 "최종 테스트" 솔루션을 제공합니다.
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