판매용 중고 LTX-CREDENCE Duo #9202944

LTX-CREDENCE 듀오 (LTX-CREDENCE Duo) 는 저용량, 복잡한 제품 설계 및 제조에 종사하는 기업에 처리 시간 및 비용 절감 효과를 제공하도록 설계된 종합적인 최종 테스트 장비입니다. 두 개의 고급 테스트 플랫폼을 하나의 솔루션 기반 패키지로 결합합니다. 자동 기능 테스트 시스템과 웨이퍼 테스트 장치 (wafer test unit) 를 모두 독립형 플랫폼에 통합합니다. 기능 테스트 머신은 강력하고 유연한 기기를 사용하여 장치 성능을 특성화하고 검증합니다. 이 도구는 복잡한 IC 설계에서 장치 매개변수를 빠르고 안정적으로 측정하도록 설계되었습니다. 높은 채널 수 (High Channel Count) 와 사용 가능한 다양한 인터페이스 유형 (Array of Available Interface Type) 을 통해 사용자는 특정한 요구에 맞게 자산을 사용자 정의할 수 있습니다. 웨이퍼 테스트 모델은 웨이퍼 (wafer) 수준에서 집적 회로를 빠르고 정확하게 특성화하도록 설계되었습니다. 거의 모든 웨이퍼 (wafer) 설계에 적용할 수있는 매우 정확한 설계 방법론과 추적 가능한 중복 측정을 제공합니다. 이 장비는 매우 작은 기능 크기뿐만 아니라, 고속 기능을 제공할 수 있습니다. 테스트 시스템은 함께, 장치 특성화 및 검증을 위한 완벽한 환경을 제공합니다. 이들은 다양한 IC 설계를 테스트할 수 있으며, 장치가 필요한 사양에 부합하는 높은 수준의 신뢰 (confidence) 를 제공하도록 설계되었습니다. 이 플랫폼은 또한 포괄적인 분석, 데이터 관리 기능을 제공하도록 설계된 강력한 소프트웨어 패키지 (software package) 를 갖추고 있습니다. 이 소프트웨어는 시스템 성능을 정확하게 보장하는 동시에, 필요한 데이터를 손쉽게 액세스할 수 있게 해 주는 한편, 운영 환경을 원활하게 실행할 수 있게 해 줍니다 (영문). 두 플랫폼의 통합을 통해 제품 출시 시간이 크게 단축되고, 비용 절감, 위험 요소 감소 등의 효과를 얻을 수 있습니다 (영문). 자동 기능 테스트 (Automated Functional Testing) 를 통해 장치 성능이 설계 사양을 충족하고 웨이퍼 (Wafer) 테스트 장치를 통해 디바이스의 정확한 구성이 보장되며, 양쪽 시스템이 함께 작동하여 고품질 제품을 확보할 수 있습니다. 또한 시스템 유연성 (Flexibility of the Machine) 을 통해 사용자는 사용자 지정 Probing Head 및 테스트 어댑터 (Test Adapter) 와 같은 구성 가능한 플랫폼 옵션을 사용하여 특정 요구 사항에 맞게 솔루션을 사용자 정의할 수 있습니다. 또한, 이 플랫폼은 기존 테스트 장비를 활용하여 비용을 절감하고, 기존 테스트 장비와의 호환성을 유지할 수 있습니다. 듀오 (Duo) 를 통해 기업은 위험 요소를 최소화하고, 제품 출시 시간을 단축하는 한편, 신뢰성 있는 고품질 (High-Quality) 최종 제품을 제공할 수 있습니다. 광범위한 기능과 기능을 갖춘 이 툴은 저용량 (low-volume), 고대역량 (high-complexity) 제품 설계 및 제조에 필요한 최종 테스트 요구 사항을 충족하는 완벽한 솔루션을 제공합니다.