판매용 중고 LTX-CREDENCE ASL-1000 #9316479

LTX-CREDENCE ASL-1000은 ATPG (Automatic Test Pattern Generation) 라는 기술을 사용하는 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템을 사용하면 디지털 집적 회로의 정확성과 성능을 빠르고, 정확하게 측정할 수 있습니다. LTX-CREDENCE ASL 1000은 고주파 테스트 패턴 생성, 디지털 테스트 리소스 최적화, 디지털 하드웨어 설계, 종합적인 테스트 해상도 기능 등 다양한 코어 기술을 통합합니다. ASL-1000 의 고주파 테스트 패턴 생성 (High Frequency Test Generation) 구성 요소는 디바이스 성능을 빠르고 정확하게 측정하도록 설계된 포괄적인 테스트 세트를 생성합니다. 이 장치는 단 몇 분 만에 수천 개의 테스트 패턴을 생성할 수 있으며, 이 장치의 기능에 대한 최대 범위 (coverage) 를 제공합니다. 테스트 패턴은 디지털, 아날로그, RF 테스트 패턴 (트랜지스터 레벨, 게이트 레벨, 블록 레벨 설계, 패턴 기반 구조 테스트 패턴 등) 을 통해 생성됩니다. 이 시스템의 디지털 테스트 자원 최적화 (Digital Test Resource Optimization) 구성 요소를 사용하면 통합 회로의 설계를 위해 테스트 패턴 생성을 사용자 정의하여 장치 기능을 최적화할 수 있습니다. 최적화 (Optimization) 구성 요소는 생성된 각 패턴의 테스트 범위를 계산할 수 있으며, 이를 통해 사용자는 최대 테스트 적용 범위를 달성하기 위해 수정해야 할 패턴을 신속하게 식별할 수 있습니다 (영문). 또한 최적화 (Optimization) 구성 요소는 테스트 최적화 보고서를 제공하며, 이를 통해 사용자는 테스트 실패의 근본 원인을 쉽게 파악할 수 있습니다. ASL 1000의 디지털 하드웨어 설계 구성 요소는 사용자가 DUT (Test Under Test) 에서 장치의 I/O 핀을 빠르고 정확하게 구성할 수 있는 기능을 제공합니다. 이를 통해 사용자는 클럭 신호, 제어 신호, 주소 지정 가능 레지스터 (addressable register) 와 같은 테스트 리소스를 제어할 수 있습니다. 또한 이 구성 요소를 사용하면 회로 (circuit) 설계를 사용자 정의하고 디바이스의 원하는 기능과 일치하는지 확인할 수 있습니다. 마지막으로, 이 툴의 포괄적인 테스트 해결 (test resolution) 기능을 통해 테스트 실패를 신속하게 분석하고 디버깅할 수 있습니다. 자산은 테스트 실패에 대한 상세한 분석 (analysis) 을 제공하며, 이를 통해 사용자는 버그 오류를 쉽게 식별하고 수정할 수 있습니다. 이 모델은 또한 추적 기반 테스트 (trace-based testing) 와 같은 강력한 기능을 제공하므로 테스트 엔지니어가 디바이스 내의 문제를 신속하게 파악하고 클라이언트에 보고서를 보내 추가 조사를 수행할 수 있습니다. LTX-CREDENCE ASL-1000 은 테스트 엔지니어가 테스트 범위를 극대화하고 디바이스 성능을 빠르고 정확하게 측정할 수 있도록 통합되고 포괄적인 솔루션을 제공합니다. 고속 테스트 패턴 생성, 자원 최적화 (Resource Optimization), 종합적인 테스트 해상도 (Comprehensive Test Resolution) 기능을 통해 디지털 회로가 예상대로 작동할 수 있습니다.