판매용 중고 LTX-CREDENCE AL 7275H #106976

LTX-CREDENCE AL 7275H는 반도체 장치의 생산 테스트 및 특성을 위해 설계된 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 접촉, 비접촉 및 전기 측정, 고속 프로브, 온도, 파라 메트릭 및 열 테스트를 포함한 완벽한 테스트 솔루션을 제공합니다. AL 7275H 의 첨단 전자 제품, 고밀도 용지함 (High-Density Drawer), 구성 가능한 테스트 기능을 통해 다양한 준비 및 테스트 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 이 기계는 복잡한 3D 및 소형 어셈블리 크기와 모양을 포함하여 다양한 패키지를 수용 할 수있는 최대 16 pdms (pdm) 를 제공합니다. 사용자는 용량, 속도, 정확도 측면에서 특정 테스트 요구에 맞게 도구를 구성할 수 있습니다. 이 자산을 통해 사용자는 구성이 가능한 테스트 아키텍처 (예: 모델의 모듈식으로 설계된 플랫폼의 고성능) 에 액세스할 수 있으며, 유연하게 기능을 업그레이드하고, 에뮬레이트하고, 장치를 특성화할 수 있습니다. 추가 기능에는 프로그래밍 가능한 테스트 벡터, 빠르고 세밀한 터치 검색 (fast and fine touch discovery), 최소한의 생산 시간 및 수익률 최적화를 위한 실시간 모니터링이 포함됩니다. 또한 LTX-CREDENCE AL 7275H 는 신속한 장애 탐지를 통해 문제 해결을 자동화하고, 수동 운영자 상호 작용을 최소화하고, 운영자 작업을 단순화하여 프로세스가 원활하게 작동하도록 합니다. 고해상도 컬러 스크린, 직관적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스), 강력한 자동 프로그래밍, 종합적인 내장 오류 복구/모니터링 기능을 갖춘 이 장비는 효율적인 테스트 통합, 프로그래밍, 실행을 보장합니다. 또한 AL 7275H에는 테스트 플랫폼을 특정 요구 사항에 맞게 사용자 정의할 수 있는 다목적 EasyAccess 소프트웨어와 자동 Probe 위치 최적화, 자동 스위치 구성, 결과 검증 기능을 제공하는 TrueVector 3D 소프트웨어 패키지가 함께 제공됩니다 (테스트 정확성 및 효율성 향상). 또한, 이 시스템에는 표준 호환 평가 루틴, 참조 라이브러리, 강력한 장치 매칭, 유도 보정 마법사 (guided calibration wizard) 등 모든 고급 패라메트릭 테스트 기능이 장착되어 있습니다. 이를 통해 정확한 결과를 얻을 수 있으며, 고급 진단, 핀 멀티플렉싱, 다중 구조 테스트는 복잡한 특성화가 용이합니다. LTX-CREDENCE AL 7275H (LTX-CREDENCE AL 7275H) 는 고품질의 고급 테스트 유닛으로, 전체 테스트 솔루션을 제공하며, 현재 및 신흥 장치 패키지 및 기술을 처리할 수 있습니다. 이 기계는 다양한 어플리케이션에 적합하며, 유연성, 구성성, 성능, 정교한 인체공학을 통해 운영 테스트 및 디바이스 특성 요구 사항에 적합합니다.