판매용 중고 ITC 55100 / 55140 #9400908

ITC 55100/55140은 제조 제품 테스트에 사용되는 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 다양한 구성 요소를 동시에 테스트하는 데 사용할 수 있는 "스마트 (smart)" 시스템입니다. 기능적으로, 이 장치는 파형, DC 매개변수, 스위칭 특성, 디지털 논리 상태 등 다양한 전기 특성을 측정하도록 설계되었습니다. 55100/55140 은 중앙 제어 모듈, 디지털 I/O 인터페이스, 데이터 획득 도구, 전원 공급 장치 등으로 구성된, 신뢰성이 높은 자동 테스트 시스템입니다. 제어 모듈을 사용하여 사용자는 제품, 테스트 제한 (test limit), 테스트 시간 (test time) 및 기타 매개변수를 포함한 테스트 설정을 프로그래밍할 수 있습니다. 디지털 I/O 인터페이스는 데이터 수집 및 처리를 위해 자산을 외부 장비에 연결합니다. 데이터 획득 모델은 0.2% 이상의 정확도로 테스트 데이터를 수집하고 저장합니다. 전원 공급 장치는 DC 입력이 필요한 테스트에 필요한 전원을 제공합니다. ITC 55100은 DC 측정, 신호 분석, 디지털 이벤트 발생을 위한 테스트 등 다양한 테스트 응용프로그램 (유형, 설계 테스트) 을 지원할 수 있습니다. 기기 를 "프로그래밍 '하여 주어진 신호 로부터 여러 가지" 파라미터' 를 측정 함 으로써 그렇게 할 수 있다. 신호 분석 기능은 제곱파, 사인파 등과 같은 다양한 아날로그 파형을 지원합니다. 또한 TTL, Si-gate 및 PIC와 같은 디지털 시스템에 대한 특수 기능 테스트를 수행 할 수 있습니다. 또한, 자동 설정 기능 및 통합 보고 기능을 통해 프로세스를 더욱 자동화할 수 있습니다. ITC 55140 은 동일한 테스트 매개변수로 구성요소를 테스트할 수 있게 해 주며, 보다 빠르고 효율적인 제품 평가를 제공합니다. 시스템의 빠른 업데이트 (update time) 를 통해 초 내에 광범위한 테스트를 수행할 수 있습니다. 장치와 외부 테스트 장치 간의 신호는 이더넷 (Ethernet) 또는 직렬 연결 (Serial Connection) 에서 지원됩니다. 이 기계는 또한 FPGA 프로그래밍 유연성과 Visual Basic, VB.Net, LabVIEW 및 C # 와 같은 내장 프로그래밍 언어를 제공합니다. 전체적으로, ITC 55100/55140은 다양한 구성 요소를 평가하기 위한 고성능, 스마트 테스트 도구를 제공합니다. 이 자산을 사용하면 아날로그 신호 (analog signal) 및 DC 측정, 신호 분석 (signal analysis) 및 디지털 이벤트 분석 (digital event analysis) 을 자동으로 테스트할 수 있습니다. 이 모델의 빠른 업데이트 시간 (fast update time) 을 통해 컴포넌트를 신속하게 테스트하고 평가할 수 있으며, 다양한 프로그래밍 언어에 대한 지원을 통해 테스트 프로그래밍의 유연성을 확보할 수 있습니다. 전반적으로 이 장비는 제품 평가 (Product Evaluation) 요구 사항에 맞게 자동화된 테스트 시스템을 찾는 사용자에게 탁월한 옵션을 제공합니다.