판매용 중고 FET TEST 3600E #293606077

FET TEST 3600E는 오늘날의 반도체 제조 요구를 충족하도록 설계된 첨단 종합 테스트 장비 (Final Test Equipment) 입니다. 3600E 는 임베디드 컴퓨터 시스템 (Embedded Computer System) 을 통합하여 공장 바닥에서 다양한 디바이스 테스트를 빠르고 정확하게 실행할 수 있게 해 줍니다. FET TEST 3600E는 고성능 하드웨어 플랫폼, X-Ray Security Unit, Process Monitoring 및 유연한 Software Suite로 구성됩니다. 하드웨어 플랫폼은 다중 소켓 CPU (각 소켓, 코어 2개), 듀얼 기가비트 이더넷 카드 및 테스트 장치를위한 최대 2 개의 독립 채널로 구성됩니다. 이를 통해 다양한 설계 구성에서 다양한 IC 및 제품 장치를 빠르고 효율적으로 테스트할 수 있습니다. 소프트웨어 측면에서 3600E Suite는 이더넷, USB 등의 여러 가지 업계 표준 프로토콜, 플랫폼, 장치를 지원합니다. Suite는 Device Characterization Tool과 같은 여러 프로그램으로 구성됩니다. 프로세스 통합자; 일련 번호 매기기, 클럭 변환 및 매개변수 모니터. 이렇게 하면 운영 프로세스 전반에 걸쳐 디바이스의 성능을 모니터링하고 특성화할 수 있습니다. FET TEST 3600E 에는 X 선 (X-ray) 도구도 포함되어 있습니다. 이 도구는 사용자가 제조 프로세스 중에 간과되거나 손상되었을 수 있는 장치 설계에서 중요한 지점을 식별하도록 도와줍니다. X 선 (X-ray) 자산은 추가 또는 향상된 제작이 필요한 영역을 식별하기 위해 장치의 내부 구조를 분석합니다. 마지막으로 3600E 에는 디바이스의 운영 프로세스를 자세히 모니터링할 수 있는 광범위한 Process Monitoring (프로세스 모니터링) 기능이 포함되어 있습니다. 프로세스 모니터 (Process Monitor) 는 운영 중 발생한 오류 또는 오작동을 신속하게 감지하여 사용자의 디바이스 성능을 보호합니다. FET TEST 3600E는 반도체 제조 산업의 노동력을 절약하고 가치를 높이기 위해 설계되었습니다. 다용도 (Versitility) 및 신뢰성 있는 성능으로 인해 디바이스 운영 테스트에 탁월한 선택이 가능합니다. 유연성, X-Ray Security Model, Process Monitoring 및 Software Suite 는 3600E 를 모든 디바이스 테스트 요구 사항에 맞게 안정적이고 효율적인 솔루션으로 제공합니다.