판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / VERIGY / ADVANTEST V93000 #293610733

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/VERIGY/ADVANTEST V93000은 고속, 신뢰성, 맞춤형 최종 테스트 장비로, 장치 제조업체와 IC 디자이너 모두에게 비용 효율적인 테스트 솔루션을 제공합니다. 메모리, 논리, 아날로그, 무선 주파수 (radio-frequency), 혼합 신호 테스트 등 다양한 테스트를 통해 빠르고 정확하게 테스트를 수행할 수 있는 통합 아키텍처를 제공합니다. 또한 HP V93000 시스템은 복잡한 RF 및 혼합 신호 테스트 (in-situ diagnostics) 를 수용할 수 있으며, 장치 제조업체에 종합적인 테스트 환경을 제공합니다. 이 장치는 테스트 플로어, DPAU (Discrete Probes Attachment Unit) 및 FTI (Final Test Interface) 의 세 가지 모듈 요소로 구성됩니다. 테스트 플로어 (test floor) 는 전기 테스트 매개변수가 설정되고 테스트가 실행되는 주요 작업 영역입니다. 전용 테스트 컨트롤러와 각 장치에 적합한 데이터 세트를 포함하는 4 개의 이동식 SD 카드로 구성됩니다. DPAU는 로직 (logic) 및 메모리 (memory) 테스트 이상으로 시스템의 테스트 기능을 확장하기 위한 통합 인터페이스입니다. 이를 통해 개별 Probe를 연결하고 ASIC (Application Specific Integrated Circuit) 및 혼합 신호 장치에 대한 인터페이스를 제공 할 수 있습니다. 또한 복잡한 데이터 분석 및 결함 분석 기능을 제공 할 수도 있습니다. FTI 는 매우 강력한 인터페이스로, 효과적이고 효율적인 최종 테스트 솔루션을 수행하는 데 필요한 유연성을 제공합니다. 최대 4 개의 독립 채널을 병렬로 활용할 수있는 이중 채널 도구입니다. 다양한 전송 속도, 높은 해상도, 다양한 타이밍 방식 (timing scheme) 으로 작동 기능을 지원합니다. 또한, 높은 처리량과 낮은 지연 시간 (대기 시간) 으로 작동할 수 있는 몇 가지 기능이 있습니다. 마지막으로, 종합적인 최종 테스트 자산은 동적 테스트 스케줄링 (dynamic test scheduling), 자동 테스트 결과 보고 (automatic test result reporting), 여러 사이트 지원 등 다양한 기능과 기능을 갖추고 있습니다. 또한 테스트 프로세스 전반에 걸쳐 UUT (Unit Under Test) 또는 디바이스와 제어 및 통신할 수 있습니다. 또한, 모델은 자동 정오표 (errata) 를 가져와 불완전한 테스트를 회수하며 물리적 손상 또는 잘못된 테스트 구성을 감지할 수 있습니다. 게다가, 이 장비는 강력한 오류 분석 (fault analysis) 및 최적화 (optimization) 기능을 갖추고 있어 테스트 결과의 수동 디버그의 필요성을 대폭 줄일 수 있습니다.