판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4073A #293666942

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4073A는 집적 회로의 품질 보증 테스트 및 다양한 반도체 장치를 위해 설계된 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템을 사용하면 IC에 대한 배터리 (battery) 테스트를 수행할 수 있습니다. IC (Battery of Tests) 는 IC의 기능 및 신뢰성을 확인하고 테스트 중인 장치의 전기적 특성을 측정할 수 있습니다. HP 4073A 는 다양한 기능과 포괄적인 주변 장치를 갖춘 저주파 (Low-Frequency), 단일 엔드 (Single-End) 테스터를 사용합니다. 소규모 (small-scale) 디바이스에서 보다 복잡한 구성 요소에 이르기까지 다양한 테스트 요구를 충족할 수 있도록 설계되었으며, 안정적이고 정확한 결과를 보장합니다. 테스트 장치는 양극성 및 MOSFET 트랜지스터, 이산 부품, IC 및 기타 반도체와 같은 다양한 기술에 걸쳐 20 가지가 넘는 장치 범주를 테스트 할 수 있습니다. 여러 가지 자동화된 테스트 순서 (automated test sequence) 와 설치 지침 (setup instruction) 을 제공하여 테스터의 빠르고 능률적인 작동을 가능하게 합니다. AGILENT 4073A는 출력 전압, 출력 전류, 전류 기능, 접합 전압 및 누출 전류와 같은 매개변수를 측정 할 수 있습니다. 또한 아날로그 및 디지털 회로 테스트를위한 고속 전압 소싱/싱킹 기능이 있습니다. 최대 테스트 주파수는 1 MHz (1 MHz) 이며 DC 및 AC 모드 모두에서 작동 할 수 있으므로 다양한 정적 및 동적 특성을 측정 할 수 있습니다. 다양한 주변 장치 커넥터 (peripheral connector) 를 통해 다른 테스트 스테이션에 연결할 수 있으므로 번인 (burn-in), 전기 응력 (electrical stress) 및 추가 측정과 같은 다양한 보조 기능을 통합할 수 있습니다. KEYSIGHT 4073A 의 유연한 아키텍처 (Flexible Architecture) 를 사용하면 특정 요구 사항과 테스트 중인 컴포넌트 유형에 따라 시스템 매개변수를 구성할 수 있습니다. 연결 케이블, 확장 케이블, 다양한 테스트 프로브 (test probe) 등 다양한 액세서리를 수용할 수 있는 다수의 커넥터가 장착되어 있습니다. 또한, 이 툴은 테스트 프로그램과 데이터를 저장하여 편리한 애플리케이션/검색 작업을 수행할 수 있습니다. 4073A 는 다양한 장치의 품질 보증 (Quality Assurance) 테스트를 위한 포괄적이고 신뢰할 수 있는 테스트 자산으로서, 다양한 기능을 통해 정확하고 안정적인 결과를 얻을 수 있습니다. 운영 테스트, 개발/디버깅 (development/debugging), 전기 장애 분석 (electrical failure analysis) 등은 작업 수행에 필요한 성능 및 기능을 제공합니다.