판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4062F #9283842

ID: 9283842
웨이퍼 크기: 8"
Parametric test system, 8" Board configuration: Slot 1 / Power Slot 2 / Inter lock Slot 3 / Circuit common Slot 4 / HP4142B: Modular DC source / Monitor unit Slot 5 / HP41420A: Modular DC source / Monitor unit 40µ V-200 V / 201 A-1 A Slot 6 / HP41421B: Modular DC source / Monitor unit 40µ V-100 V / 201 A-100 mA Slot 7 / HP41421B: Modular DC source / Monitor unit 40µ V-100 V / 201 A-100 mA Slot 8 / HP4142A V Source / V Monitor unit Slot 9 / - Slot 10 / HP41425A Analog feed back unit Monitor rack: PC: HP Series 700i HP 41501A SMU Pulse generator expander LCD: IIYAMA Pro lite E1702S.
AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4062F는 전자 제품의 생산 테스트를 위한 고성능 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 사용이 간편한 하나의 패키지로 빠르고, 정확하며, 자동화된 테스트 및 데이터 수집 기능을 제공하여, 독립형 테스터를 추가할 필요가 없습니다. 새로운 HP 4062F 는 생산되는 동안 전자 부품과 어셈블리를 더욱 신속하게 평가, 검증할 수 있게 해 줍니다. AGILENT 4062F는 고해상도 BitScope, DSP (Digital Signal Processor) 및 FPGA Digital I/O 보드를 포함한 다양한 통합 하드웨어 및 소프트웨어를 갖추고 있습니다. 이러한 구성 요소는 Aristos CX 32비트 컨트롤러와 통합되어 빠르고 정확한 테스트 결과를 위해 필요한 처리 능력 (Processing Power) 및 데이터 처리량을 제공합니다. KEYSIGHT 4062F에는 16 개의 고속 디지털 I/O 채널과 8 개의 아날로그 I/O 채널이 있어 데이터를 빠르고 정확하게 수집하고 처리합니다. 채널당 최대 10kHz의 고속 샘플링을 사용할 수 있으며, 초저속 지터 샘플 속도는 약 0.2 "입니다. FPGA DIO 보드는 Aristos CX 컨트롤러에 연결되어 있으며 24비트 TTL I/O를 제공하여 빠르고 안정적인 스위칭 및 데이터 입수를 지원합니다. 고해상도 BitScope를 사용하면 채널당 최대 10MS/s의 32비트 해상도를 입력할 수 있습니다. 따라서 여러 장치를 동시에 테스트하여 생산성을 높일 수 있습니다. 또한, 교정 장치가 내장되어 있으므로, 오랜 시간에 걸쳐 테스트 정확도를 유지할 수 있습니다. DSP (Digital Signal Processor) 는 빠르고 정확한 측정 방법을 제공하여 다른 테스트 장비와 통합하고 보다 포괄적인 테스트를 수행합니다. 또한 4062F는 EWB (Electronics Workbench), National Instruments Multisim 및 Mathworks Matlab을 포함한 많은 인기있는 디자인 및 시뮬레이션 도구와 호환됩니다. 이 호환성은 테스트 조건, 측정, 결과의 빠르고 효율적인 설계, 시뮬레이션을 보장합니다. 또한 통합 보고서 생성기 (Integrated Report Generator) 를 사용하면 여러 형식으로 익스포트할 수 있는 보고서를 신속하게 작성할 수 있습니다. HEWLETT-PACKARD 4062F는 전자 부품 생산 테스트를위한 강력하고 다재다능한 최종 테스트 머신입니다. 직관적인 디자인과 결합된 고속, 정확성, 자동 테스트 (automated testing) 는 전자 부품 테스트를 위한 비용 효율적인 솔루션으로 탁월한 선택입니다.
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