판매용 중고 ADVANTEST T 6373 #293812089

ADVANTEST T 6373은 장치 개발 및 생산을 위해 설계된 최종 테스트 시스템입니다. 자동 테스트 시스템 및 솔루션의 선두 제조업체 인 ADVANTEST가 개발 한이 제품은 DRAM, SRAM, 플래시, NOR, NAND 등을 포함한 다양한 반도체 메모리 테스트와 논리 IC 및 이산 장치를 지원합니다. ADVANTEST T6373은 1152 핀 P1K 테스터와 모듈 식 캐비닛이있는 병렬 테스터 플랫폼을 갖추고 있습니다. 최대 핀 수 10,800 핀, 테스트 채널 최대 8,117 핀으로 1,152 핀에서 1,440 개의 장치를 동시에 테스트 할 수 있습니다. 고급 EOL 테스트 기능을 통해 T 6373은 제조 프로세스 전에 실리콘 웨이퍼 (silicon wafer) 의 배치를 감지하여 수율이 향상됩니다. T6373의 스캔 옵션에는 동적 스캔, 고급 내장 비스캐닝, EOL 스캐닝 및 완벽한 프로그래밍 가능한 Test Source Trace 소프트웨어가 포함됩니다. 또한, ADVANTEST T 6373은 고속, 고정밀 데이터 처리 및 패턴 최적화 및 장치 특성화를위한 디버그 모드를 제공합니다. ADVANTEST T6373은 여러 로드 보드 및 언로더, 고정장치 인터페이스 플레이트, Step and Repeat, KDT (Key Device Test), Windowing 및 Advanced Window Repair 소프트웨어 모듈을 포함한 다양한 액세서리를 제공합니다. Analyzer 및 데이터 스토리지 (data storage) 옵션도 제공되며, 환경 테스트 및 모니터링에 다양한 환경 센서를 사용할 수 있습니다. 테스트 기능 외에도 T 6373 은 다양한 생산성 기능을 제공합니다. 고속 및 고정밀 DIE (Active Area Recognition) 기능을 통해 디바이스 테스트 처리량을 향상시킬 수 있습니다. 또한 초고속 히트싱크 (heat-sink) 작동이 가능하여 주기 시간이 빨라지고 테스트 속도가 기존 테스트 시스템보다 최대 10 배 빨라지는 Peak Speed (피크 속도) 옵션을 제공합니다. T6373 의 사용자 친화적, 직관적인 소프트웨어 플랫폼은 다양한 가상 키와 함께 사용하기 쉬운 터치스크린 (Touchscreen) 인터페이스를 제공합니다. 또한 일련의 소프트웨어 라이브러리, 유틸리티, 옵션 모듈 (옵션) 을 지원하여 빠르고 유연한 프로그래밍을 수행할 수 있습니다. 또한 ADVANTEST T 6373은 ICD (In-circuit debugging), JTAG (Joint Test Action Group), ICT4 표준 및 IEEE 1149.1 (JTAG for Component Testing) 표준과 같은 최신 표준을 준수합니다. 전반적으로 ADVANTEST T6373은 장치 개발 및 생산을 위한 일체형 솔루션을 제공합니다. 광범위한 생산성, 환경 모니터링 (Environmental Monitor) 솔루션과 함께 강력한 테스트 기능을 통해 안정성, 정확성, 고속 테스트를 위한 완벽한 선택이 가능합니다.