판매용 중고 ADVANTEST T 6371 ND1 #293812032
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ID: 293812032
빈티지: 2002-2004
Testers
256 Input/Output (I/O) channels
1024 Liquid Crystal Display (LCD) pins
2002-2004 vintage.
ADVANTEST T 6371 ND1은 반도체 테스트 시스템의 세계적 리더 인 ADVANTEST Corporation에서 개발 및 제조 한 고급 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 고급 컴퓨터 기술 (Advanced Computer Technology) 을 통해 웨이퍼 레벨 (Wafer Level) 과 최종 반도체 IC 테스트를 포함한 다양한 어플리케이션에 적합합니다. T 6371 ND1은 고도로 자동화된 Tester 장치로 IC (Integrated Circuit) 장치를 효율적으로 테스트하도록 설계되었습니다. wafer probe (웨이퍼 프로브) 및 final test (최종 테스트) 를 모두 수행할 수 있으며 다양한 디바이스 유형에 걸쳐 테스트 프로그램 호환성을 제공합니다. 테스터는 모듈식 아키텍처 (modular architecture) 를 기반으로 특정 테스트 요구 사항에 맞게 쉽게 사용자 정의할 수 있습니다. 또한 고속 샘플링 및 분석, 다중 DUT 아키텍처 및 동적 로딩을 지원합니다. 이 시스템에는 Windows 운영 도구가 통합되어 있어 사용자 편의성과 작업 편의성이 보장됩니다. 사용자 지정 기능이 뛰어난 테스트 인터페이스로 구축된 ADVANTEST T 6371 ND1 을 사용하면 테스터 구성요소를 포괄적으로 모니터링할 수 있습니다. 또한 여러 가지 자동 테스트 소프트웨어 (Automated Test Software) 옵션을 사용하여 사용자의 특정 테스트 요구에 맞게 자산을 쉽게 사용자 정의할 수 있습니다. T 6371 ND1 은 고급 컴퓨터 기술 덕분에 높은 처리량과 빠른 처리율을 제공합니다. 여러 테스트를 동시에 실행하여 효율성을 극대화할 수 있도록 설계되었습니다. 이 모델은 병렬 테스트와 현장 프로그래밍을 활용하여 복잡한 IC 장치를 신속하게 테스트할 수 있습니다. 정확성과 신뢰성을 위해 설계된 ADVANTEST T 6371 ND1은 고급 데이터 분석, 결함 진단, 테스트 실패를 감지하는 화면 기능, 진단 메시지 표시, 매개변수 핫 키 제어 등 다양한 고급 기능을 제공합니다. 이 장비는 고급 반도체 테스트 및 분석의 까다로운 요구 사항과 복잡한 IC (complex IC) 의 대용량 생산을 위해 설계되었습니다. 또한 T 6371 ND1 은 고급 장애 범위, 장애 감지 정확성 및 테스트 반복 기능을 제공합니다. 이 시스템은 최첨단 전원 교정 (Power calibration) 기술을 사용하여 최고의 테스트 정확성을 보장합니다. 또한, ADVANTEST T 6371 ND1은 작은 설치 공간을 자랑하여 제한된 환경에서 쉽게 배포할 수 있습니다. 전반적으로, T 6371 ND1은 다양한 반도체 IC 응용 프로그램을 효과적으로 처리하도록 설계된, 고급적이고 신뢰할 수있는 최종 테스트 장치입니다. 고급 컴퓨터 기술, 통합 Windows 운영 체제, 높은 처리 속도, 고급 장애 적용 범위 (fault coverage) 를 갖춘 이 툴은 통합 회로를 빠르고 효율적으로 테스트할 수 있는 기능을 제공합니다.
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