판매용 중고 ADVANTEST T 5831ES #9395201

ADVANTEST T 5831ES는 고속, 정확도가 높은 웨이퍼 테스트 요구 사항을 충족하도록 설계된 최첨단 최종 테스트 장비입니다. 고급 스캐닝 현미경, 고해상도 이미징 기술과 같은 혁신적인 기능을 자랑하는 T 5831ES 는 전체 웨이퍼 (wafer) 테스트 절차를 간소화하여 최적의 성능과 안정적인 출력을 보장합니다. 정교한 모듈식 (modular) 설계를 통해 다운타임 없이 같은 날에 무제한의 테스트를 실행할 수 있습니다. ADVANTEST T 5831ES는 고해상도 CCD 카메라를 통합하여 웨이퍼를 빠르고 정확하게 자동으로 스캔할 수 있습니다. 고급 웨이퍼 내비게이션 (Wafer Navigation) 기술을 통해 신속하고 정확하게 결함을 찾을 수 있으며, Wafer Surface 결함을 완벽하게 파악하여 데이터 기반 결정을 내릴 수 있습니다. 제어 시스템에서는 매개 변수 모니터링이 가능하며, 여러 테스트에 대해 쉽게 재설정할 수 있습니다. 또한 기본 제공되는 자동 포커싱 (automatic focusing) 옵션을 통해 모든 웨이퍼에 대해 일정한 이미지 평면을 확보하여 초점 설정을 수동으로 조정할 필요가 없습니다. 또한, in-burn 시간 테스트 기능은 높은 신뢰성 제품에 이상적인 선택입니다. 부분 Wafef 시뮬레이션 모드 (Partial Wafef Simulation Mode) 를 추가하면 매개변수에 대한 사전 검증 분석을 수행할 수 있으며 다운타임을 최소화하여 효율성을 더욱 높일 수 있습니다. T 5831ES는 모든 규모의 생산에 적합합니다. 모든 유형의 IC 장치를 충족하는 다양한 테스트 매개 변수가 특징입니다. 사용자 친화적 인 인터페이스를 통해 작업을 쉽게 수행할 수 있으며, 직관적인 터치스크린 (touchscreen) 컨트롤은 빠른 탐색 및 제어를 제공합니다. 풍부한 고급 (advanced) 기능을 통해 최적의 웨이퍼 테스트 성능을 보장하고 최신 업계 표준을 충족할 수 있습니다. 최고 품질의 표준에 맞게 설계 및 제조된 ADVANTEST T 5831ES 는 모든 Wafer 테스트 요구 사항에 이상적인 솔루션입니다. 고급 기능, 안정적인 성능, 경쟁력 있는 가격, 이 머신은 효율적이고 정확하며 안정적인 테스트를 보장합니다. 소형 "칩 '의 대용량 배치 를 시험 하고 있든지, 아니면 단일 대용량" 칩' 을 사용 하든지 간 에, 이 도구 는 일 에 달려 있다.