판매용 중고 ADVANTEST T 5781ES #9081300

장점 T 5781ES (ADVANTEST T 5781ES) 는 집적도가 높은 저가형 디지털 제품을 지원하기 위해 다양한 테스트 유형을 제공하도록 설계된 최종 테스트 장비입니다. 로직 테스트 (logic test), 타이밍 테스트 (timing test), 패라메트릭 테스트 (parametric test) 등 다양한 테스트 방법을 지원하는 통합 플랫폼으로, 테스트 프로세스를 간소화하고 향상된 결과를 통해 제품을 더 빠르게 시장에 출시할 수 있도록 설계되었습니다. 장점 T5781ES는 사이클 시간이 900 ~ 3,600MHz인 고속 논리 테스트를 제공합니다. LQS (Low-Quantity Unit) 구조와 인라인 레이아웃 (In-Line Layout) 구조를 결합하여 고대역폭 테스트를 빠르고 정확하게 수행할 수 있는 여러 도구를 갖춘 테스트 머신을 만듭니다. LQS 구조는 논리 및 타이밍 테스트 프로그램을 모두 포함하는 소수의 멀티 프로세서 (multi-processor) 코어를 사용합니다. 이를 통해 테스트가 빠르고, 더 작은 테스트 공간을 사용할 수 있게 되어, 테스트 비용이 절감됩니다. 통합 타이밍 테스트는 최대 4GHz 이상의 속도를 낼 수 있는 공구 클럭 (Tool Clock) 에서 작동합니다. 이를 통해 훨씬 빠른 속도로 신호 전송 (transmission of signal) 을 허용하여 테스트 결과의 속도와 정확도를 모두 향상시킵니다. 타이밍 테스트 (Timing Test) 는 자산 성능을 분석하고 여러 신호 사이의 타이밍을 신속하게 분석하도록 설계되었습니다. T 5781ES 는 또한 패라메트릭 테스트 (parametric test) 를 갖추고 있어 성능 향상과 함께 지정된 주파수 범위 내의 매개변수를 완벽하게 분석할 수 있습니다. 이러한 테스트는 종종 장치에 지정된 게인 (gain), 노이즈 그림 (noise figure), 변환 비율 (conversion ratio) 및 기타 매개변수가 있는지 확인하는 데 사용됩니다. Parametric 테스트는 단일 모델에서 다양한 RF 디바이스를 테스트하는 데 특히 유용합니다. T5781ES는 고급 SiP, WLCSP, MEMS 등 다양한 장치 기술을 지원하도록 설계되었습니다. 또한, 다양한 장치 응용 프로그램에 대한 5 나노 미터 해상도를 지원합니다. 이 고해상도 테스트는 복잡하고 오버헤드가 낮은 제품 설계를 지원하므로 테스트 정확도를 높이고 수율을 높일 수 있습니다. 전반적으로, ADVANTEST T 5781ES는 다양한 테스트 유형을 지원하고 새로운 장치 기술을 지원하는 강력한 최종 테스트 장비입니다. 통합, 고속 논리, 타이밍 테스트 (timing test), 패라메트릭 테스트 (parametric test) 를 통해 매우 복잡한 제품을 테스트하는 효율적이고 비용 효율적인 방법을 제공합니다. 이 시스템은 테스트 비용을 절감하고 제품을 더 빨리 시장에 출시하려는 모든 제조업체에 적합한 선택입니다 (영문).