판매용 중고 ADVANTEST T 5723ES #9155947

ID: 9155947
Testers Flash memory testing Test station: (8) Site channels configuration: (Dr: 9ch + I/O: 9ch) / Site Set trigger terminal TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL Prober Measurement section: DC Test unit: PMU Ch/site Programmable power supply PPS (Vcc,Vccq,Vpp,Vnn): (4) Ch/Site Timing generator: Number of timing edges: BCLK: 1-8 CCLK: 1-8 STRB: 1-2 (16) Timing sets Pattern generator ALPG: X Register - 16 bits Y Register - 16 bits Z Register - 16 bits (8) Pairs driver output reference levels (VIH, VIL) (8) Pairs comparator input reference levels (VOH, VOL) Failure analysis memory: (16 Mbits / Site) Pattern memory: (16 Mbits / Site) Down flow mainframe Control section Tester processor: Celeron-LP / 400MHz Memory capacity: 256 MBytes PC work station CPU (Xeon): H3-610086 Memory capacity: 512 MBytes 40GB Hard disk Ethernet 10 / 100 Base T port CD-ROM / RW Drive 3.5" Floppy disk drive: 1.44 MB LCD Monitor (17"): H3-610085 (2) Sets GP-IB interface: H3-610067 Peripherals: 10/100 Base T cable network connection: Cable (15m): H3-6628X03 Desk system: H9-110034/H3-710114 Photoelectric smoke sensor Additional EMO switch Without-key type: H3-XXXXX Accessories: Standard accessories GP-IB cable: H3-610131 Contact check board: SH7-010053 System ratings: Power line voltage: Line: 180 - 220 VAC (20 A, 3-phase power source) (2) Lines: 120 V + /-10% (Single phase power source) Power line frequency: 60 Hz +/-0.5% Power consumption maximum: 2.8 kVA Country kit: A H3-710105.
ADVANTEST T 5723ES는 최고 수준의 안정성과 성능을 위해 설계된 Final Test 장비입니다. 이 시스템은 테스트 기술 분야의 선두 기업으로, 광범위한 반도체 (semiconductor) 디바이스에 대한 포괄적인 테스트 솔루션을 제공합니다. T 5723ES 장치는 고유하고 신뢰할 수있는 여러 가지 기능을 제공하여 Final Test 기계에 적합합니다. 이 도구는 단일 칩 (single-chip) 장치를 테스트하도록 설계되었으며, 아날로그 및 디지털 반도체 장치를 모두 테스트할 수 있습니다. 장점 T 5723ES (ADVANTEST T 5723ES) 자산에는 통합 설계가 포함되어 있어 수작업 없이 가장 까다로운 데이터 장애를 감지하고 수정할 수 있습니다. 또한, 이 모델은 광범위한 웨이퍼 직경과 두께를 처리 할 수 있습니다. T 5723ES 장비에서 중앙 제어 장치 (Central Control Unit) 는 모든 테스트 작업이 수행되는 기지국 역할을합니다. 이 장치에는 테스트 작업을 효율적으로 관리할 수 있는 고속 CPU (High Speed CPU) 가 포함되어 있으므로 테스트 프로세스 중에 감지된 오류가 적시에 처리됩니다. 이 시스템은 또한 고급 알고리즘 기반 교정 장치 (algorithm-based calibration unit) 를 갖추고 있어 정확하고 정확한 측정을 보장합니다. 이 컴퓨터에는 작업 및 제어가 용이한 GUI (Graphical User Interface) 도 장착되어 있습니다. 또한, ADVANTEST T 5723ES 도구에는 다양한 매개변수를 측정 할 수있는 고성능 광학 센서 (optical sensor) 어레이가 장착되어 있습니다. 이러한 매개 변수 중 일부에는 신호 주파수, 진폭 및 복잡한 신호 왜곡이 포함됩니다. 또한이 자산은 또한 다이 플라스틱, 다이 마켓 가능성, 다이 강도 및 다이 저항을 측정 할 수 있습니다. 테스트 기능 외에도 T 5723ES 모델은 온도 감지 장치, 과전류 보호, 서지 보호, EMI 보호 등 광범위한 안전 측정 및 구성 요소를 갖추고 있습니다. 이 기능은 테스트 작업이 안전하고 안전하게 수행되도록 도와주며, 테스트 장비 (Test Equipment) 와 테스트 중인 장치 (Device) 의 손상 가능성을 최소화합니다. 마지막으로, ADVANTEST T 5723ES 시스템은 포괄적인 진단 도구를 자랑하여 테스트 프로세스의 전반적인 효율성을 높입니다. 이러한 툴에는 테스트 결과를 디버그 (debug), 추적 (trace), 능숙하게 탐색할 수 있는 기능이 포함되어 있으므로 엔지니어가 테스트 프로세스의 오류 또는 이상을 신속하고 정확하게 파악할 수 있습니다. 전반적으로 T 5723ES는 안정적이고 정확한 테스트 결과를 제공하는 기능의 Final Test 유닛입니다. 이 기계는 광범위한 반도체 소자 테스트에 적합하며, 정교한 알고리즘을 활용하여 정확한 결과를 보장합니다 (영문). 포괄적인 안전 측정, 강력한 기능 세트, 사용 편의성을 갖춘 ADVANTEST T 5723ES는 모든 Final Test 툴을 위한 최고의 선택입니다.
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