판매용 중고 ADVANTEST T 5723 #9155943

ID: 9155943
Tester Flash memory testing Test station: Channel configuration: (144) Sites (Dr:9ch+I/O:9ch) / Site Prober: TEL P12XL Trigger terminal Measurement section: DC Test unit: PMU Ch/Site Programmable power supply PPS (Vcc, Vccq, VBpp, Vnn): 4 Ch/Site Timing generator: Number of timing edges: BCLK: 1-8 CCLK: 1-8 STRB: 1-2 (16) Timing sets Pattern generator: ALPG X register - 16 bit Y register - 16 bit Z register - 16 bit Driver output reference level (VIH,VIL): (8) Pairs Comparator input reference level (VOH,VOL): (8) Pairs Failure analysis memory (16 Mbits / Site) Pattern memory (16 Mbits / Site) Control section: Tester processor: Celeron-LP / 400 MHz Memory capacity: 256 MByte PC Work station: H3-610086 CPU (Xeon) Memory capacity: 512 MByte 80GB Hard disk Ethernet 10/100 base T port CD-ROM Drive 3.5" Floppy disk drive (1.44MB) LCD Monitor, 19": H3-610142 Keyboard and track ball: H3-610135 GP-IB interface: (2) H3-610067 Others: Photoelectric smoke sensor Additional EMO switch without-key: H3-710079 Accessories: Standard accessories System ratings: (3) Power line voltages: 180 - 220 VAC (50 A, 3-Phase power source) Power line frequency: 60 Hz ±0.5% Power consumption (Max): 200 VAC, 26 kVA Air requirement: Air consumption (Dry air): 0.49-0.69 MPa Custom specifications: SEMI: S2-0303 / S8-0701 Manuals: Hardware online manual.
장점 T 5723 (ADVANTEST T 5723) 은 다양한 전자 부품 및 회로를 효율적이고 효율적으로 테스트하도록 설계된 자동화된 최종 테스트 장비입니다. 매우 까다로운 테스트 환경의 요구를 충족하도록 설계된, 빠르고 정확한 테스트 (testing) 를 제공하는 풍부한 기능의 시스템입니다. T 5723 은 모듈식 (modular) 구조로 구축되었으며 최대 128 개의 테스트 채널을 지원할 수 있습니다. 이 장치에는 자동 조정, 데이터 캡처/저장, 온도, 환경 모니터링, 제어 등의 고급 기능이 있습니다. 이는 산업, 자동차, 의료 분야, 항공 우주, 통신, 소비자 전자 시장 등 다양한 구성 요소와 시스템을 테스트하는 데 적합합니다. 이 기계는 DSP (Advanced, High Speed Digital Signal Processor) 로 구동되며, 여러 테스트를 동시에 실행할 수 있으며, 복잡한 구성 요소의 다중 계층 테스트 및 검증을 수행할 수 있습니다. 이 툴에는 전원 공급 장치, 테스터 메인프레임, 자동화 컨트롤러, 다양한 기능 테스트 보드 등 다양한 리소스 구성 요소가 포함되어 있으며, 모두 하나의 장치로 통합되어 있습니다. 또한 ADT 5723은 혼합 신호 테스트 기술을 사용할 수있는 다기능 자산 아키텍처를 갖추고 있습니다. 이를 통해 ADC, 플래시 메모리 및 E2PROM 테스트와 같은 혼합 신호 테스트가 가능합니다. 또한, 경계 스캔 (boundary scan), 다양한 직렬 버스 주변 장치 (serial bus peripheral) 와 같은 여러 유형의 프로그래밍 및 측정 기술을 모델에 통합할 수 있으므로 구성 요소를 프로그래밍 및 테스트할 때 유연성이 향상됩니다. 장비는 ECC 및 패리티 비트, 실시간 모니터링 기능, 자가 모니터링 기능 등 다양한 내장 내결함성 (fault-tolerance) 메커니즘을 포함하므로 신뢰성이 뛰어납니다. 이 기능은 유지 관리 비용을 절감하고 시스템의 전반적인 안정성을 대폭 향상시킵니다. 전반적으로, ADVANTEST T 5723은 다양한 구성 요소 및 시스템에 대한 총 테스트 솔루션을 제공합니다. 이 제품은 효율적이고, 안정적이며, 비용 효율적인 장치로 대용량 테스트 환경에 적합합니다.
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