판매용 중고 ADVANTEST T 5722 #9254237

ADVANTEST T 5722는 SOC (System-on-chip), MCM (Multi-Chip Module) 및 플래시 메모리 장치와 같은 어플리케이션을 위해 설계된 강력한 최종 테스트 장비입니다. 이 제품은 패라메트릭 (parametric) 및 기능 테스트 (Functional Test) 에서 결함 진단 설계 (Design Defect Diagnosis) 에 이르기까지 광범위한 테스트 기술을 지원하는 고성능, 비용 효율적인 테스트 플랫폼을 제공하여 제품 개발에 소요되는 시간과 비용을 대폭 줄일 수 있습니다. 하드웨어 측면에서 볼 때, T 5722 는 다양한 슬롯 구성을 통해 최고의 유연성을 제공합니다. 즉, 특정 요구 사항에 맞게 장치를 사용자 정의할 수 있습니다. 4 슬롯 백플레인은 메모리, 임베디드 제품, 고속 로직 등 다양한 애플리케이션에 적합한 다양한 테스트를 지원합니다. 또한 동기식 (synchronous) 및 비동기식 (asynchronous) 테스트를 통해 여러 테스트를 동시에 병렬로 실행할 수 있습니다. ADVANTEST T 5722는 향상된 속도와 성능을 제공하여 보다 효율적인 테스트를 수행합니다. 고속 신호 처리 기능을 통해 더 빠른 신호를 측정할 수 있으며, 내장 신호 (signal-shaping) 및 오버드라이브 (overdrive) 기능을 통해 정확한 측정이 가능합니다. 또한 패라메트릭 (parametric) 및 결함 진단 (fault diagnosis) 테스트와 같은 다기능 테스트가 포함되어 있어 테스트 개발에 적합합니다. T 5722 는 또한 다양한 진단 기능을 제공하므로, 사용자가 신속하게 결함 또는 장애를 파악하여 시간과 비용을 절감할 수 있습니다. 이 시스템은 광범위한 데이터베이스 (database) 와 결합하여 테스트 데이터를 수집, 관리, 분석하고, 제품 성능을 분석하고 설계를 개선하는 데 사용할 수 있는 정보를 제공합니다. 또한 고급 테스트 주기 (Advanced Test Cycle) 를 통해 사용자가 신속하게 결함을 파악할 수 있습니다. 전반적으로, ADVANTEST T 5722는 고급 제품 개발을 위해 강력하고 안정적인 테스트 기능을 제공합니다. 유연하고 사용자 정의 가능한 설계와 고성능 (HPS) 기능을 갖춘 이 제품은 높은 처리량, 향상된 정확성, 더욱 뛰어난 유연성을 필요로 하는 복잡한 테스트 시스템에 이상적인 솔루션입니다.