판매용 중고 ADVANTEST T 5592 #163116
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ID: 163116
Memory tester
CONFIGURATION: (1 Test Head with Full Configuration)
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION: (1 Test Head with Full Configuration)
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
PIN CONFIGURATION 1. 144DR+192I/O
2. 288DR+384I/O
3. 576DR+768I/O [1,2,3] ...........> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ......................................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE1 (1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD A/B/C/D ..........> YES
PE2 (7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54) CHILD A/B/C/D ..........> YES
PE3 (13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56) CHILD A/B/C/D .........> YES
PE4 (65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116) CHILD A/B/C/D ......> YES
PE5 (71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE6 (77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE7 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180) CHILD A/B/C/D ..> YES
PE8 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182) CHILD A/B/C/D? .> YES
PE9 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184) CHILD A/B/C/D? .> YES
PE10 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244) CHILD A/B/C/D .> YES
PE11 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD A/B/C/D.> YES
PE12 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248) CHILD A/B/C/D .> YES
PE13 (1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52) CHILD E/F/G/H .............. YES
PE14 (7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54) CHILD E/F/G/H? ..........> YES
PE15 (13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD E/F/G/H .......> YES
PE16 (65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116) CHILD E/F/G/H ......> YES
PE17 (71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD E/F/G/H......> YES
PE18 (77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120) CHILD E/F/G/H ......> YES
PE19 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE20 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE21 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE22 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE23 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246) CHILD E/F/G/H .> YES
PE24 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248) CHILD E/F/G/H ..> YES
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
10V PPS CONFIGURATION [1-128]......> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ..................................> 50
CONFIGURATION OF ALPG
NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..........................................> 4
ONFIGURATION OF PDS
NUMBER OF CYCLE PALETTE [8,16] ...........................> 8
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST[Y,N] ..........................................> YES
SIZE OF DBM BOARD [1-2] [1:256K? 2:1M] ..................> 2
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0,4,8] ...................................> 4
NUMBER OF AFM MODULE [0,8] ..................................> 8
SIZE OF AFM BOARD [1-2] [1:4M] 2:16M] .....................> 1.
ADVANTEST T 5592는 반도체 칩을위한 최종 테스트 장비입니다. 많은 데이터 및 전기 테스트 핀이 필요한 HPC (High-Pin-Count) 마이크로 프로세서, 메모리 및 기타 장치의 웨이퍼 및 장치 수준 테스트를 위해 설계되었습니다. T 5592 시스템은 빠르고 효율적인 테스트 프로세스가 필요한 장치 제조업체에 적합한 솔루션입니다. ADVANTEST T 5592는 통합 아키텍처를 통해 총 테스트 기능을 제공합니다. 이 장치에는 장치 테스트, 인터페이스, 제어 및 결과 분석을 제어할 수 있는 Maximus 소프트웨어와 VectorStar 하드웨어가 결합되어 있습니다. Maximus 소프트웨어는 최대 32 배의 병렬 테스트 (parallel testing) 기능을 제공하여 테스트 시간과 비용을 줄일 수 있습니다. T 5592 기계의 주요 기능 중 하나는 확장 가능한 설계로, 최대 512 핀까지 테스트 할 수 있습니다. 이 도구를 사용하면 고속 I/O 및 고해상도 ADC 기능을 사용하여 전체 패라메트릭 및 기능 테스트를 수행할 수 있습니다. 또한 wafer level 테스트에 대한 사전 테스트 모드, 테스트 처리량을 극대화하기 위한 장치 교체, 수리, 특성 등 다양한 테스트 모드를 제공합니다. 장점 T 5592 (ADVANTEST T 5592) 는 장치 테스트에 가장 높은 감지 해상도를 제공하여 최대 정확도와 품질 보증을 지원합니다. 데이터 플랫폼 에셋 온 칩 테스트는 고속 테스트 기능도 제공합니다. 또한 전력, 임피던스 (impedance) 및 기타 고속 테스트에 대한 높은 병렬 처리 및 빠른 테스트 구현이 가능한 내장 고속 테스트 알고리즘 라이브러리를 제공합니다. T 5592 의 주요 이점은 '반복 가능하고 일관성 있는' 고품질 테스트 결과를 제공한다는 것입니다. 즉, 디바이스 제조업체는 디바이스 테스트 결과를 신뢰할 수 있습니다. 이 모델은 또한 설계 및 제작 (fabrication) 의 변화에 적응하여 하이엔드 테스터 (Tester) 를 선택할 수 있습니다. 통합 아키텍처와 확장 가능한 설계를 갖춘 장점 T 5592 (ADVANTEST T 5592) 는 빠르고 효율적인 테스트를 통해, 장치 제조업체가 경쟁력이 뛰어난 반도체 테스트 시장에서 앞서갈 수 있도록 지원합니다. 이 장비는 반도체 장치의 고품질 및 고정밀 테스트를 위한 완벽한 솔루션입니다.
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