판매용 중고 ADVANTEST T 5592 #136077
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ID: 136077
Memory tester with M6751AD handler
=
/DIAG/G
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.144DR+192I/O
2.288DR+384I/O
3.576DR+768I/O? [1,2,3] ...........> 3
NUMBER OF TEST HEAD? [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE1 ( 1 - 6 , 19 , 33 - 38 ,51 , 52 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE2 ( 7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE3 ( 13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE4 ( 65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE5 ( 71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE6 ( 77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE7 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE8 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE9 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE10 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE11 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE12 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE13 ( 1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE14 ( 7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE15 ( 13 - 18 , 21 , 45 -50 , 55 , 56 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE16 ( 65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE17 ( 71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE18 ( 77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE19 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE20 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE21 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE22 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE23 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE24 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE1 ( 1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE2 ( 7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE3 ( 13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE4 ( 65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE5 ( 71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE6 ( 77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE7 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE8 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE9 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE10 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE11 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE12 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE13 ( 1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE14 ( 7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE15 ( 13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE16 ( 65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE17 ( 71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE18 ( 77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE19 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE20 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE21 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE22 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE23 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE24 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
10V PPS CONFIGURATION [1-128] ......> 1-128
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
10V PPS CONFIGURATION [1-128] ......> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF ALPG
NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..............................> 4
ONFIGURATION OF PDS
NUMBER OF CYCLE PALETTE? [8,16] ......................> 8
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST? [Y,N] ..............................> YES
SIZE OF DBM BOARD? [1-2] [1:256K? 2:1M] ..............> 2
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD? [0,4,8] ..........................> 0
END SAVE
=
/LOG OFF
ADVANsite Software Product Information? 08-APR-2009 08:52:21
System Software : ASX/U-51
Version : 6.00A1
CPU Type : SPARC
Product P number Revision [Expected] Date Label
Title
--------------------------------------------------------------------------------
ASXUBASE PASX51-92**** 2.03 [ ] 01-DEC-1989 ROOT
SunOS Release 5.7
ATW51SU PASX51-92**** 6.00A [ ] 28-JAN-2002 ATLW51
ATLworks for T5500 Series
DIAG5592SU PASX51-92**** 1.05B [ ] 15-MAY-2002 DG5592
Tester Diagnosis (T5592)
ICD51SU PICD51-00**** 1.03 [ ] 02-NOV-2000 ICD51
ICD/U-51 One Line Compiler
MPEDIT51SU PMPE51-00**** 1.02 [ ] 02-NOV-2000 MPE51
MPEDIT/U-51 Memory Pattern Editor
SYSTEST51SU PASX51-92**** 6.00A1 [ ] 06-MAR-2002 SYST51
ADI/SYS TEST (T5581 Series)
TESTUTL51SU PASX51-92**** 6.00A1 [ ] 06-MAR-2002 TUTL51
Tester Utilities (T5581 Series)
WBMA51SU PWBM51-00**** 4.01 [ ] 31-JAN-2001 WBMA51
Workbench-M2 for T5500 Series (Analysis Tools)
WBMW51SU PWTR51-00**** 4.01 [ ] 08-FEB-2001 WBMW51
Workbench-M2 for T5500 Series (WaveTracer2)
XATL51SU PXTL51-00**** 5.04A [ ] 08-MAR-2001 XATL51
XATL/U-51 Cross Compiler.
장점 T 5592 (ADVANTEST T 5592) 는 다양한 장치를 빠르고 효율적으로 테스트하도록 설계된 최종 테스트 장비입니다. 디지털 로직 회로 (digital logic circuit), 아날로그 장치 (analog device) 등 다양한 구성 요소와 기능에 대한 정확하고 자동화된 테스트를 가능하게 합니다. 이 시스템은 고속, 듀얼 스테이지 테스트 (dual-stage testing) 기술을 사용하며, 품질 지향적 성능이 필요한 제품에 대해 빠르고 정확한 테스트를 제공하도록 설계되었습니다. T 5592의 핵심은 고급 테스트 기술입니다. 이 장치는 이중 단계 테스트를 사용하여 더 정확한 결과를 확인합니다. 테스트 프로세스의 첫 번째 단계에서, 기계는 장치를 탐지, 분석하여, 상세한 분석 및 사고 응답 (incident response) 을 가능하게 합니다. 테스트의 두 번째 단계는 장치를 신속하게 검색, 분석, 비교할 수 있는 병렬 (parallel) 아키텍처입니다. 결과적으로 테스트가 빠르고 수정이 빨라집니다. 또한, 이 툴은 대규모 구성요소 정보 데이터베이스 (database of component information) 에 액세스하여 추가 분석 및 비교를 가능하게 합니다. 또한 ADVANTEST T 5592는 완벽한 원격 액세스 및 로깅 기능을 갖춘 향상된 GPRS 테스트 기능도 제공합니다. GPRS 테스트 기능을 사용하면 여러 단계의 테스트를 통해 다양한 GPRS 제품을 빠르고 정확하게 테스트 할 수 있습니다. 이 자산은 또한 실시간 그래프 (Graphs) 와 차트로 결과 데이터를 포괄적으로 시각화 (Visualization) 하여 장치 성능을 종합적으로 측정합니다. T 5592 의 이중 단계 테스트 (Dual Stage Testing) 는 사용 측면에서 구성 요소 및 모델 레벨 테스트를 용이하게 하여 성능 최적화 및 품질 제어를 지원합니다. 이 장비의 실시간 액세스/분석 능력은 제품 개발 (Product Development) 에 이상적인 솔루션으로, 장치 설계 및 성능에 대한 귀중한 통찰력을 제공합니다. 또한, 시스템을 회로 내 (in-circuit) 및 기능 테스트에 사용할 수 있으므로 장치의 안정적인 작동과 품질을 보장할 수 있습니다. 전반적으로, ADVANTEST T 5592는 여러 제품에 대한 정확하고 효율적인 테스트를 가능하게 하는 고급 테스트 장치 (advanced test unit) 입니다. 이중 단계 테스트, GPRS 테스트 기능, 실시간 데이터 분석 등을 통해 제품 개발 및 회로 내 (in-circuit) 테스트를 위한 최적의 선택이 가능합니다. 이 시스템의 성능 최적화 (Performance Optimization) 및 품질 관리 (Quality Control) 기능은 다양한 구성 요소와 장치에 대해 안정적이고 정확한 결과를 보장합니다.
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