판매용 중고 ADVANTEST T 5591 #9179779

장점 T 5591 (ADVANTEST T 5591) 은 고급 메모리, 논리 장치, 복잡한 디지털 제품에 이르기까지 다양한 애플리케이션에 적합한 최종 테스트 장비입니다. 시스템은 In-circuit (ICT), Boundary-scan (JTAG) 및 Functional 테스트 방법론의 조합을 사용합니다. 이 장치는 모듈식 (modular) 으로, 오늘날의 최신 제조 환경에서 여러 테스트 구성을 통해 효율성을 극대화할 수 있습니다. T 5591에는 강력한 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 가 제어하는 여러 개의 I/O 카드, ETB (Enhanced Teraband), 전원 공급 장치 및 DMM (Digital Multimeters) 과 같은 테스트 리소스가 포함됩니다. ADVANTEST T 5591 의 GUI 를 사용하면 필요한 모든 테스트 데이터에 쉽게 액세스하고 테스트 실행을 손쉽게 설정, 제어할 수 있습니다. 또한 GUI 를 사용하면 테스트 흐름을 사용자 정의하여 테스트 시간을 최적화하고 자원을 효율적으로 할당할 수 있습니다. 테스트 개발 및 설치 작업은 테스트 대상 장치에 대한 테스트 (DUT) 를 빠르고 쉽게 정의할 수 있도록 T 5591 Test Creator 마법사로 간소화됩니다. 또한 ADVANTEST T 5591 ID Database (장치 데이터 포함) 를 사용할 수 있습니다. 이 데이터베이스는 사용자가 해당 디바이스에 대한 정보를 쉽게 검색할 수 있도록 해줍니다. 이 기계는 또한 다양한 수준의 장치 테스트를 수용하는 포괄적인 회로 내 (In-circuit), 경계 스캔 (Boundary-scan) 및 기능 (Functional) 테스트 방법을 제공합니다. 회로 내 (In-circuit) 테스트의 경우, 이 도구는 여러 개의 I/O 카드와 ETB를 사용하여 장치의 복잡한 작동 논리에 대한 정확한 신호 가속, 전압 측정 및 기능 테스트를 제공합니다. 에셋은 또한 JTAG/BSDL 인터페이스를 사용하여 회로의 여러 노드에서 구조 테스트를 수행하는 경계 스캔 (boundary-scan) 을 지원합니다. 마지막으로, 기능 테스트를 위해 모델은 DMM 및 전원 공급 장치 (Power Supplies) 를 사용하여 전압을 정확하게 측정하고, 운영 출력을 Data Sheet 사양과 비교하거나, 전원 공급 장치 또는 출력을 테스트하기 위해 부품에 대한 낮은 수준의 로드 전류를 발휘합니다. T 5591은 UUT, UCD, UCF, USB, IEEE 1149.1, CAN 및 이더넷과 같은 최신 산업 표준 및 프로토콜을 지원하도록 제작되었습니다. 또한, 이 장비는 시스템의 외부 장치와 인터페이스하기 위해 다양한 통신 프로토콜을 지원합니다 (영문). 전반적으로, ADVANTEST T 5591은 오늘날의 고급 제조 환경에서 다양한 디지털 제품을 테스트 할 수있는 강력하고 다재다능한 최종 테스트 장치 (final test unit) 입니다. 모듈식 설계, 강력한 GUI, 포괄적인 테스트 방법을 갖춘 T 5591 은 제품 테스트에 적합한 선택입니다.