판매용 중고 ADVANTEST T 5586 #9075036

장점 T 5586 (ADVANTEST T 5586) 은 전자식 반도체 제품 제조에 더욱 뛰어난 품질과 신뢰성을 제공하도록 설계된 정교하고 효율적인 최종 테스트 시스템입니다. 이 시스템은 다용도이며 ATPG (Automatic Test Program Generator) 모듈, CTM (Core Test Module), TMSC (Transistor-Mixer-Shift Comparator) 모듈, EST (Environmental Stress Test) 모듈 및 고급 AMM AM을 포함한 여러 가지 테스트 옵션이 있습니다. ATPG 모듈은 제조 장치 (Manufactured Device) 의 다양한 작동을 정확하게 강조하는 테스트를 생성하도록 설계되었습니다. '복잡한 테스트 패턴 (complex test pattern)' 을 생성하여 디바이스의 신뢰할 수 있는 작동을 테스트할 수 있습니다. 또한, 이 모듈은 테스트 중에 수집된 매개변수 측정에 대한 포괄적인 분석을 제공합니다. CTM 모듈은 반도체 제품을 위한 자동화된 테스트 리소스입니다. 다양한 프로그래밍 언어와 로직 디자인 (logic design) 사용자를 위해 액세스 할 수있는 개방형 아키텍처 설계가 특징입니다. 이 모듈은 임베디드 프로세서 (Embedded Processor) 를 사용하여 테스트 패턴을 해석하고 코어 테스트 명령 (Core Test Command) 세트를 제공하여 보드에서 보드까지 테스트를 자동화할 수 있도록 설계되었습니다. 또한 CTM 모듈은 DFT (Design-for-testability) 테스트와 같은 다양한 테스트, 그리고 제품에 필요한 특수 테스트도 제공합니다. TMSC 모듈은 결합 된 TMS (Transistor-Mixer-Shift) 장치 및 비교 모듈입니다. 고속 어플리케이션에서 논리 신호 (Logic Signal) 와 컴포넌트 (Component) 를 측정하기 위한 안정적이고, 정확하며, 견고한 방법을 제공하도록 설계되었습니다. 이 모듈은 3 중 DIO (Digital Input Output) 아키텍처로 구동되며 최대 3 개의 장치를 동시에 테스트할 수 있습니다. 이 모듈에는 정확한 테스트 패턴이 생성되도록 시스템을 감지하고 수정하는 동안 오류가 발생했습니다 (영문). EST 모듈은 사용자가 극심한 온도, 압력, 습도 조건에서 반도체 부품을 테스트할 수 있도록 설계되었습니다. 이 모듈은 최대 180 MPa (밀리바) 의 압력에서 -40C와 + 120C 사이의 환경 조건에서 구성 요소를 테스트 할 수 있습니다. 또한 EST 모듈은 30 분 이내에 + 99% RH 에 도달할 수 있으며, 단일 명령으로 환경 등급 사이를 전환할 수 있습니다. 마지막으로, AMM (Advanced Monitor Mode) 모듈은 장치 제조의 생산 프로세스를 모니터링하여, 품질 장치가 표준 (set standard) 에 따라 생산되도록 합니다. 이 모듈은 프로덕션 프로세스에서 오류 및 편차를 감지하고 문제의 Alert (경고) 연산자를 감지할 수 있습니다. 이 정보는 품질 관리 (Quality Control) 프로세스를 개선하여 제조 프로세스의 효율성과 신뢰성을 향상시키는 데 사용될 수 있습니다.