판매용 중고 ADVANTEST T 5585 #9351974
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ID: 9351974
Memory tester
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
NORMAL PIN CONFIGURATION
1 1 1 1 1 1 1 1 2 2 2 2
3 3 4 4 4 9 0 0 0 6 6 6 7 7 2 2 3 3
3 7 1 5 9 7 1 5 9 1 5 9 3 7 5 9 3 7
CHILD A-D : Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y
CHILD E-H : Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y
DRIVER OPTION PE
CHILD A-D : NO
CHILD E-H : NO
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
NORMAL PIN CONFIGURATION
1 1 1 1 1 1 1 1 2 2 2 2
3 3 4 4 4 9 0 0 0 6 6 6 7 7 2 2 3 3
3 7 1 5 9 7 1 5 9 1 5 9 3 7 5 9 3 7
CHILD A-D : Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y
CHILD E-H : Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y
DRIVER OPTION PE
CHILD A-D : NO
CHILD E-H : NO
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ............> 1-64,97-192,225-256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ............> 1-64,97-192,225-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF ALPG
NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..............................> 2
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST [Y,N] ..............................> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0,2,4,8] ........................> 4
NUMBER OF AFM MODULE [0,8] ..........................> 8
SIZE OF AFM BOARD [1-2] [1:4M 2:16M] ...............> 1
PATTERN MEMORY(PM) BOARD EXIST [Y,N] ................> NO
END SAVE.
ADVANTEST T 5585는 MCU, 메모리 및 기타 유형의 집적 회로와 같은 반도체 장치를위한 고성능 최종 테스트 장비입니다. 시간당 최대 5,000 개의 장치를 수용할 수 있는 고속, 고해상도 고해상도 (HI) 처리기가 장착되어 있습니다. ADVANTEST T5585의 최적화된 설계로 최종 테스트의 생산성 향상, 웨이퍼 프로브 어플리케이션 (Wafer Probing Application) 에 더욱 효과적입니다. T 5585는 SIL (Silicon) 및 EUT (Equipment Under Test) 솔루션을 하나의 플랫폼에 통합하여 장치 및 절차 사용자 정의를위한 사용하기 쉬운 프레임워크를 제공합니다. 또한 강력한 하드웨어/지능형 소프트웨어 기능을 통해 테스트 시퀀스를 구성하고 결과를 정확하게 분석할 수 있습니다 (영문). 이 시스템에는 장치 프로그래밍 모듈 (Device Programming Module) 이 장착되어 있어 장치 프로그래밍, 테스트 패턴 생성, 플래시 및 에프롬 지우기, 장치 프로그래밍을위한 포괄적인 소프트웨어 도구 세트를 제공합니다. 이 장치는 품질 관리, 안정성 테스트, 기능 테스트에 대한 다양한 테스트를 수행할 수 있습니다. 경계 스캔, 타이밍 측정, 전력 분석 등과 같은 표준 디지털 테스트를 지원합니다. 또한 AC 및 DC 아날로그 테스트 기능도 지원합니다. T5585 는 테스트를 위해 다양한 플랫폼을 갖추고 있으며, 각 플랫폼에는 구성 가능한 회로 구조가 있으며, 최대 256 개의 신호를 지원할 수 있습니다. ADVANTEST T 5585는 모듈 테스트, 설계 분석, 다이 선반 수명 테스트, 전기 누수 테스트, 온도 사이클링과 같은 신뢰성 측정을 제공합니다. 또한 장치 레이저 마킹 및 레이블링을 지원합니다. 장점 T5585는 매우 자동화된 테스트 머신입니다. 여기에는 장치 로드, 언로드, 테스트 실행을 위한 별도의 프로세스를 만드는 Work Table Manager가 있습니다. ZERO-EL 연산자 화면은 편집 가능한 테스트 레시피, 장치 그래픽 데이터 및 기타 다양한 키 정보를 지원합니다. 이 도구는 다양한 오류 처리기 및 기타 도구와 호환됩니다. T 5585 는 모든 단일 사이트 또는 다중 사이트 웨이퍼-프로브 애플리케이션의 요구를 충족하도록 설계되었습니다. 안정적이고 안정적인 플랫폼을 기반으로, 정확하고 안정적인 결과를 얻을 수 있습니다. 고급 기능 (Advanced Features) 과 기능이 함께 제공되므로 테스트 또는 품질 관리 (Quality Control) 요구 사항을 완벽하게 충족할 수 있습니다.
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