판매용 중고 ADVANTEST T 5585 #293634718

ADVANTEST T 5585는 대용량 웨이퍼 및 장치 테스트를 위해 설계된 높은 처리량, 최종 테스트 장비입니다. 최신 APBIT (Advanced Pattern Based In-System Test) 기술이 적용되어 복잡한 설계를 빠르고 정확하게 테스트 및 검증할 수 있습니다. 이 장치는 시간당 최대 100 개의 웨이퍼와 최대 10,000 개의 전자 부품을 처리 할 수 있으며, 단일 패스에서 많은 양의 처리량을 지원합니다. 이 시스템은 메인프레임을 포함한 여러 구성 요소로 구성되어 있으며, 여기에는 여러 개의 ICTS (Integrated Circuit Testing Solutions) 및 DMT (Dielectric Microscopy Testing) 시스템 및 웨이퍼 및 부품 관리를위한 공통 라이브러리 라이브러리. 이 도구에는 또한 프로그래밍 가능한 스위칭 멀티 플렉서 (switching multiplexer) 가 포함되어 있으며, 병렬로 여러 IC를 동시에 테스트할 수 있으며 장치 테스트를위한 통합 프로브 처리 에셋이 있습니다. 장점 T5585는 높은 수준의 정확성과 반복성을 제공합니다. APBIT 기술로 복잡한 설계를 테스트할 수 있으며, 이를 통해 최대 8 개의 결함 모드를 동시에 검사하고 1.2 초/모듈의 빠른 테스트 시간을 확인할 수 있습니다. 이 모델은 고속 결함 적용 범위를 제공하며 최대 300MHz의 스캔 주파수에서 이중 이미지, 브리징, 쇼트 (short) 및 오픈 테스트 매개변수를 감지 할 수 있습니다. T 5585 는 테스트 자동화 및 사용자 정의 기능을 통해 높은 수준의 유연성을 제공하도록 설계되었습니다. MIL-STD-883, JEDEC 및 여러 맛의 IEEE 1687을 포함한 다양한 표준을 지원합니다. 또한 간단한 배선 연결 및 사용하기 쉬운 그래픽 사용자 인터페이스로 지원되는 다양한 테스트 하드웨어 인터페이스 (예: 벡터리스 (vectorless) 및 모듈러 핀 스왑 (modular pin swap)) 를 지원합니다. 이 장비는 또한 웨이퍼 레벨 테스트 (wafer level testing) 를 위한 열 프로파일링 (thermal profiling) 및 장치 온도가 지정된 테스트 조건 내에 유지되도록 온도 측정 기능을 제공합니다. 또한 시스템의 k 계수 PTM (Precision Test Management Unit) 을 통해 고급 장치 특성화 및 디버그 기능을 사용할 수 있습니다. T5585는 최고 속도, 최고 정밀도 최종 테스트 요구를 충족하는 이상적인 솔루션입니다. 대용량 웨이퍼/유닛 테스트를 위한 효율적이고, 정확하며, 확장 가능한 테스트 솔루션을 제공합니다.